Patent DE 10 2016 113 283
Verfahren zum Bestimmen einer Widerstandsauslenkung einer Wheatstone-Brücke in einer Hochtemperaturumgebung
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen einer Widerstandsauslenkung einer Wheatstone-Brücke in einer Hochtemperaturumgebung, wobei die von der Wheatstonebrücke abgeleitete Ausgangsspannung als ein Eingangsspannungssignal (VIN) an einen ASIC-Signalpfad übergeben und in einem ersten Schritt in ein Stromsignal überführt wird, wobei das Stromsignal in einem zweiten Schritt in ein Zeitsignal und das Zeitsignal anschließend in ein pulsweitenmoduliertes Signal (PWM) überführt wird, wobei aus den zeitlichen Längen innerhalb der Phasenfolge des pulsweitenmodulierten Signals der Wert einer relativen Widerstandsauslenkung (∆R/R) der Wheatstone-Brücke bestimmt wird.
Patent-Nr.:DE 10 2016 113 283
Erfinder:Georg Gläser. Dagmar Kirsten. Dirk Nuernbergk. André Richter
Anwendung:
HochtemperatursensorikForschungsfeld:Integrierte Sensorsysteme
offengelegte Patentanmeldung
Anmeldetag:19.07.2016
Tag der Veröffentlichung:15.01.2018
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Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt
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Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.


