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Competition Runner-up für den Beitrag: Automated Generation of System-Level AMS Operating Condition Checks: Your Model's Insurance Policy

Auszeichnung mit dem Competition Runner-up auf der 14th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design, SMACD, 12th-15th June 2017, Giardini Naxos - Taormina, ITALY
Datum:
Auszeichnung:
Competition Runner-up für den Beitrag: Automated Generation of System-Level AMS Operating Condition Checks: Your Model's Insurance Policy
Autoren und Autorinnen:
Georg Gläser1. Martin Grabmann1. Gerrit Kropp1. Andreas Fürtig2.
Veranstaltung:

14th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design, 12th-15th June 2017, Giardini Naxos - Taormina, Italy

 
1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 2Institute for Computer Science, Goethe Universität Frankfurt a. M., Germany.

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Kontakt

Kontakt

Eric Schäfer, M. Sc.

Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt

eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35

Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.

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