2142 results
Reference
  881. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie  
U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  
Reference
  882. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils  
M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  
Reference
  883. Erhöhung von Integrationsgrad und Ausbeute für ISM-Band Empfänger-ICs durch BISC  
P. Teichmann, 1. EDA-Workshop 07, 19.-20. Juni 2007, Hannover  
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  884. Eric Schäfer, M. Sc.  
Head of Microelectronics / Branch Office Erfurt  
Reference
  885. EROLEDT  
The ASIC developed by IMMS will enable organic LEDs to run efficiently in energy terms over a long life cycle.  
Reference
  886. Erschließung maschinellen Lernens und künstlicher Intelligenz für neue Anwendungsgebiete  
Georg Gläser, InnoCON Thüringen 2019, Intelligent.Digital.Vernetzt, 13. November 2019, Multifunktionsarena, Erfurt  
Press release
  887. Erste Prototypen im neuen MEMS-Testlabor am IMMS charakterisiert  
 
Press release
  888. Erster Open Roberta Coding Hub in Mitteldeutschland gegründet  
TU Ilmenau, Fraunhofer IDMT und IMMS machen Programmierwelten für Kinder spielerisch erlebbar  
Reference
  889. Erweitertes Smart Metering zur verbesserten Verbrauchsanalyse und für neuartige Smart Home Services  
M. Götze, Lichtenwalde: Leibniz-Konferenz. 12.05.2011  
Event
  890. ERWICON - Logistik - intelligent machen  
 
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