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Press release
  821. IMMS ist erste I4.0-Testumgebung Thüringens – Kooperation für KMU vom BMBF gefördert  
Unternehmen können ihre Industrie-4.0-Entwicklungen unter realistischen Bedingungen testen  
Reference
  822. Ko²SiBus  
Novel methods have been developed with which data lines in running industrial plant can be monitored cost-efficiently.  
Reference
  823. Kommunikation – ist doch selbstverständlich, oder?  
Franziska Buchwald, Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Vernetzung, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena  
Reference
  824. Mehr Transparenz in der Produktion und in Prozessen durch nachrüstbare Sensorik  
Jörg Weber, Jenaer Technologietag, Digitale Arbeitswelten, Workshop zu Technologie, 31. Januar 2018, Ernst-Abbe-Hochschule, Jena  
Event
  825. Jenaer Technologietag  
„Digitale Arbeitswelten – Auf in die Neue (Arbeits-) Welt“  
Reference
  826. DE 10 2016 113 283  
Method for determining a resistive deflection of a Wheatstone bridge in a high temperature environment  
Reference
  827. Wie Mikroelektronik dabei hilft, Krebs im Frühstadium zu erkennen  
Alexander Hofmann, Michael Meister Friedrich Scholz Balázs Németh Susette Germer Hendrik Härter Elektronikpraxis, Fachwissen für Elektronik Professionals, Nr. 1, 11. Januar 2018, S. 46 - 48, online: https://www.elektronikpraxis.vogel.de/wie-mikroelektronik-dabei-hilft-krebs-im-fruehstadium-zu-erkennen-a-673280/  
Press release
  828. Alles Gute für 2018!  
IMMS startet mit neuem Leiter Mikroelektronik ins neue Jahr.  
Reference
  829. High Voltage RF-Multiplexer for medical Applications – Development of a Test Environment up to 100 V and 100 MHz  
Bjoern Bieske, Dagmar Kirsten tm - Technisches Messen, 85(5), pp. 302-311, DOI: https://doi.org/10.1515/teme-2017-0117  
Reference
  830. High-Precision Mixed-Signal Sensor Interface for a Wide Temperature Range [0° – 300°C]  
Georg Gläser, Dagmar Kirsten André Richter Marco Reinhard Gerrit Kropp Dirk M. Nuernbergk Journal of Microelectronics and Electronic Packaging, January 2018, Vol. 15, No. 1, pp. 1-8, DOI: https://doi.org/10.4071/imaps.523847  
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