661. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS   C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer. Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. 03.11.2011  

  662. Interferometric Test Station for Parallel Inspection of MEMS   C. Schäffel, S. Michael R. Paris A. Frank N. Zeike K. Gastinger M. Kujawinska U. Zeitner S. Beer Dresden: 5. Tagung 'Feinwerktechnische Konstruktion'. http://141.30.123.140/feinwerkwiki/index.php/5._Tagung_Feinwerktechnische_Konstruktion  

  663. Ein Tool-Framework zur Technologiemigration analoger Schaltungen   V. Boos, J. Nowak Erlangen: Analog 2011  

  664. Ein Tool-Framework zur Technologiemigration analoger Schaltungen   V. Boos, J. Nowak Erlangen: in Proceedings ANALOG 2011. GMM-Fachbericht Band 70. CD-ROM. ISBN 978-3-8007-3369-9  

  665. Interferometric controlled planar nanopositioning system with 100mm circular travel range   S. Hesse, C. Schäffel M. Katzschmann H.-J. Büchner Denver, USA: ASPE 26th Annual Meeting of the American Society for Precision Engineering. in Proceedings, CD-ROM  

  666. Frequency compensation for a class of DAE's arising in electrical circuits   E. Hennig, D. Krauße E. Schäfer R. Sommer C. Trunk H. Winkler PAMM (Proc. Appl. Math. Mech.). S. 837-838  

  667. Entworfen und bewegt   C. Schäffel, M. Katzschmann 11.2011. Der Konstrukteur S. 22-23  

  668. SyEnA - Syntheseunterstützter Entwurf analoger Schaltungen   A. Graupner, R. Jancke P. Jores J. Nowak R. Popp Newsletter edacentrum. S. 5-16  

  669. RFID und NFC - Bindeglieder synchronisierter Welten   W. Sinn, Dresden: 5. Dresdner RFID-Symposium, 09.12.2011