2138 results
Event
  201. The Mile of Technology 2019  
[Translate to English:] Details to follow.  
Reference
  202. The asynchronous rapid single-flux quantum electronics - a promising alternative for the development of high-performance digital circuits  
B. Dimov, Th. Ortlepp V. Mladenov S. Terzieva F. H.Uhlmann Advances in Radio Science, Kleinheubacher Berichte, 6, 1-9, 2008  
Reference
  203. The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers  
Bernd Hähnlein, Maria Kellner Maximilian Krey Alireza Nikpourian Jörg Pezoldt Steffen Michael Hannes Töpfer Stefan Krischok Katja Tonisch Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113784  
Press release
  204. The 2016 Annual Report is available  
Here you can find the contents in brief and the entire report which is linked to further information, related articles and videos.  
Reference
  205. Text messages  
Text messages on 25 years of IMMS: Here you will find texts sent to us by our partners for our 25th anniversary. There are also many references to concrete projects and joint product developments. Many thanks!  
Reference
  206. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich  
Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  
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  207. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion  
B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
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  208. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC  
Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
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  209. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS  
M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  
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  210. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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