1754 results
Reference
  1551. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche  
Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  
Reference
  1552. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche  
Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  
Reference
  1553. Temperaturfeldberechnungen in der Mikromechanik  
K. Rettig, 16. CAD-FEM User Meeting, Bad Neuenahr-Ahrweiler, Oktober 1998  
Reference
  1554. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control  
Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-150  
Reference
  1555. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control  
Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Specification and Design Languages (FDL), 2015 Forum on, 14-16 Sept. 2015, Barcelona, Spain, (Best-Paper-Award), DOI: http://dx.doi.org/10.1109/FDL.2015.7306358, Print ISBN - IEEE Xplore 978-1-4673-7735-5  
Reference
  1556. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz  
Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online  
Reference
  1557. TESCA  
The drive system for a terahertz camera allows security checks whereby people can be effectively scanned for hidden objects as they simply pass by.  
Service for R&D
  1558. Test and characterisation  
[Translate to English:] Service for R&D: Test and characterisation. We test, characterise and qualify your circuits, sensors and systems. Based on our excellent pool of measurement equipment, we develop an individually adapted test environment for measurements on wafers and individual components.  
Reference
  1559. Test der Entwurfsmethode für inkrementelle Messsysteme anhand einer Beispielapplikation  
J. Zellmann, IMMS F&E Report, 19.10.1999, Ilmenau  
Reference
  1560. Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich  
B. Bieske, 21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen  
Search results 1551 until 1560 of 1754