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Reference
  1491. Gesteigerte Wertschöpfung in modularen Systemen – Fehlerursachenanalyse für Produktionsanlagen  
Kaja Balzereit, Björn Barig Alexander Maier atp magazin, 8/2019, Vulkan-Verlag  
Event
  1492. Workshop „Design Thinking“  
Interaktiver Workshop über neue Denk- und Arbeitsweisen – Lernen Sie die Kernelemente des Design Thinking praktisch kennen.  
Event
  1493. UGM – Datensicherheit in der Cloud  
User Group Meeting – Konzepte zur Datensicherheit in der Cloud. Die Sicherheit von Daten in der Cloud (wie z.B. die Daten mit denen KI-Modelle trainiert werden) wird über ein Modell der geteilten Verantwortung gewährleistet.  
Event
  1494. ISEF 2019  
19th edition of International Symposium on Electromagnetic Fields in Mechatronics, Electrical and Electronic Engineering  
Reference
  1495. Design of a Test Station for Magnetoelectric Sensor Development  
Maximilian Krey, Hannes Toepfer Roman Paris Thomas Froehlich 2019 19th International Symposium on Electromagnetic Fields in Mechatronics, Electrical and Electronic Engineering (ISEF), 29 - 31 August 2019, Nancy, France, 2019, pp. 1-2, DOI: https://doi.org/10.1109/ISEF45929.2019.9097048  
Event
  1496. IFAC 2019  
Contribution to the Invited Session ”Precision scanning systems in metrology and manufacturing“  
Reference
  1497. Integrated Planar 6-DOF Nanopositioning System  
Stephan Gorges, Steffen Hesse Christoph Schäffel I. Ortlepp E. Manske E. Langlotz D. Dontsov 2019 11th IFAC Symposium on Nonlinear Control Systems (NOLCOS 2019), 4 - 6 September 2019, Vienna, Austria , IFAC-PapersOnLine, Volume 52, Issue 15, 2019, Pages 313-318, ISSN 2405-8963, DOI: https://doi.org/10.1016/j.ifacol.2019.11.693  
Reference
  1498. Silicon-Ceramic Composite Substrate: A Promising RF Platform for Heterogeneous Integration  
Michael Fischer, Sebastian Gropp Johannes Stegner Astrid Frank Martin Hoffmann Jens Mueller in IEEE Microwave Magazine, vol. 20, no. 10, pp. 28-43, Oct. 2019. DOI: https://doi.org/10.1109/MMM.2019.2928675  
Reference
  1499. Enhancing RF Bulk Acoustic Wave Devices: Multiphysical Modeling and Performance  
Vikrant Chauhan, Christian Huck Astrid Frank Wolfgang Akstaller Robert Weigel Amelie Hagelauer in IEEE Microwave Magazine, vol. 20, no. 10, pp. 56-70, Oct. 2019. DOI: https://doi.org/10.1109/MMM.2019.2928677  
Reference
  1500. Fehlerursachenanalyse entlang verteilter Produktionsanlagen mit Hilfe lernender Assistenten  
Kaja Balzereit, Tino Hutschenreuther Informationstag “Intelligente Produktionsprozesse: Forschung zu Machine Learning und Künstlicher Intelligenz„, 12. September 2019, Frankfurt am Main  
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