1723 results
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  1191. Technologiebaukasten auf dem Weg zu autonomen Industrie-4.0-konformen Sensor/Aktor-Systemen  
Ilmenau, 19.04.2018. Die Thüringer Forschergruppe Green-ISAS präsentierte Vertretern des projektbegleitenden Beirats aus zwölf Unternehmen und drei Forschungseinrichtungen am 18. April 2018 beim dritten Statusworkshop am IMMS den Stand der Arbeiten zu Grundlagentechnologien für autonome Industrie-4.0-konforme Sensor/Aktor-Systeme anhand von drei Demonstratoren und vier Fachvorträgen. „Die Unternehmen wünschen sich eine vernetzte, automatisierte und flexible Produktion, um effizienter hohe Qualität bieten zu können. Dazu muss man an vielen Stellen viele Mess- und Steuerdaten erfassen,…  
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  1192. Digital Engineering  
Wireless sensor networks and concepts for their quality assurance and optimisation for the monitoring of building physics parameters.  
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  1193. TSN test lab  
In the Time Sensitive Networking (TSN) laboratory, IMMS is exploring the technological limits to the creation of data-intensive industrial real-time applications.  
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  1194. System-Level Operating Condition Checks: Automated Augmentation of VerilogAMS Models  
Georg Gläser, Martin Grabmann Gerrit Kropp Andreas Fürtig CDNLive EMEA 2018, 7-9 May 2018, München  
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  1195. NanoFab  
IMMS has been working on solutions for a highly dynamic drive system for multi-axis manufacturing and processing of objects with nanometre precision in the Research Training Group 2182 ”NanoFab“.  
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  1196. TSN – ein neuer Vernetzungsstandard für Industrie 4.0  
Thomas Elste, Ralf Sommer edaWorkshop 2018, 16.-17. Mai 2018, Hannover  
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  1198. EDA Achievement Award 2018 für Methoden des IMMS zum Entwurf integrierter Schaltungen  
Neue Methoden ermöglichen schnelle und fehlerfreie Entwürfe komplexer Industrie-4.0-Lösungen  
Press release
  1199. New Head of Industrial Electronics and Measurement Engineering  
Dr. Klaus Förster hands over to Michael Meister on June 1st  
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  1200. A Fully Passive RFID Temperature Sensor SoC With An Accuracy Of ±0.4 °C (3σ) From 0 °C To 125 °C  
Jun Tan, Muralikrishna Sathyamurthy Alexander Rolapp Jonathan Gamez Eckhard Hennig Ralf Sommer 2018 IEEE International Conference on RFID (RFID), Orlando, FL, USA, 10-12 April 2018, pp. 1-8. DOI: https://doi.org/10.1109/RFID.2018.8376198  
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