2142 results
Reference
  1051. High-Sensitive Demodulator with Built-in Negative Offset Comparator for Passive UHF RFID Tags  
Rohit Kesharwani, Andre Jäger Martin Grabmann Georg Gläser Eric Schäfer 2024 IEEE International Conference on RFID Technology and Applications (RFID-TA), Daytona Beach, FL, USA, 2024, pp. 109-112, DOI: https://doi.org/10.1109/RFID-TA64374.2024.10965142  
Press release
  1052. Highly accurate and battery-free measurement via RFID  
IMMS PhD candidate defends dissertation on precise passive RFID sensor technology  
Reference
  1053. Highspeed optoelectronic interface for RSFQ superconductive electronics  
S. Badi, P. Febvre, H. Eusebe, J.F. Roux, J.L. Coutaz, A. Krotkus, B. Ebert, Dr. H. Töpfer Th. Ortlepp, F.H. Uhlmann, J. Kunert, L. Fritzsch, H.-G. Meyer 5th SCENET School Superconducting Materials and Applications, 30.8.-10.9. 2004, Salamanca, Spanien  
Reference
  1054. Hinters Licht geführt – Optical Wireless Links  
Christian Jordan, Andreas Bluschke Ralf Boden Ulrich Liebold Philipp Rietzsch 11. ITG Fachkonferenz Breitbandversorgung, 29.-30. März 2017, Fraunhofer Heinrich-Hertz-Institut, Berlin  
Event
  1055. HiTEN 2017  
Lecture High-Precision Mixed-Signal Sensor Interface for a Wide Temperature - Range [0°-300°C] Georg Gläser1, Dirk M. Nuernbergk2, Dagmar Kirsten3, André Richter1, Marco Reinhard1, Gerrit Kropp1 1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH 2Melexis GmbH, Erfurt 3X-FAB Semiconductor Foundries AG, Germany, Erfurt  
Event
  1056. HiTEN 2019  
International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network  
Reference
  1057. Hitzefest - Design von Mixed-Signal-Hochtemperatur-ICs  
St. Richter, W. Göttlich D. Nuernbergk V. Nakov S. Bormann Design & Elektronik, Sonderdruck, S. 56f, März 2002  
Reference
  1058. Hochpräzise positionieren – Integrierter 6-DOF-Direktantrieb bewegt Objekte nanometergenau im Raum  
Christoph Schäffel, Konstruktion, Sonderteil Antriebstechnik, https://www.ingenieur.de/fachmedien/konstruktion/antriebstechnik/hochpraezise-positionieren/, 13. Oktober 2020  
Reference
  1059. Hochtemperatur-Wafertest bis 300°C  
Marco Reinhard, Ulrich Liebold André Richter Ingo Gryl 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
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