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Press release

1021. IMMS-Entwicklungen für mehr Energieeffizienz - SENSOR+TEST 2012

Hochtemperatur-Sensorsystem mit Dampfmaschine, Sensor + Test 2012. Foto: IMMS.

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1022. Early Power Estimation in a Mixed-Signal Environment using UVM and RTL Compiler

Muralikrishna Sathyamurthy, Eckhard Hennig Felix Neumann Lukasz Kotynia CDNLive!, Cadence User Conference, EMEA 2012, München, 14.5.2012-16.05.2012

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1023. A UVM-based Verification Methodology for RFID-enabled Smart Sensor Systems

Muralikrishna Sathyamurthy, Eckhard Hennig Felix Neumann CDNLive!, Cadence User Conference, EMEA 2012, München, 14.5.2012-16.05.2012

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1024. Analyse des rauschinduzierten Timing-Jitters in Low-Power Mixed-Signal-Schaltungen mittels einer High-Level Beschreibung

K. Agla, O. Wetzstein Th. Ortlepp H. Töpfer Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS), 2012, Tagungsband, S. 104 - 109, ISBN: 978-3-8396-0404-5, CD-ROM

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1025. Analyse des rauschinduzierten Timing-Jitters in Low-Power Mixed-Signal-Schaltungen mittels einer High-Level Beschreibung

K. Agla, O. Wetzstein Th. Ortlepp H. Töpfer Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS), 2012, Dresden, 03.05.2012-04.05.2012

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1026. Realisierbarkeit eines tragbaren Erfassungssystems fur leitungsgebundene Störströme in Industrieanlagen

Peter Kornetzky, Martin Sachs Stefan Schramm Deutsche Gesellschaft für die Anwendung der Mikroelektronik e.V. (DFAM), Studie Nr. 8/2012, ISBN 978-3-8163-0622-1

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1027. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme

Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de

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1028. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)

R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012

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1029. Smart Home Platform for the Integration of Image Information in Daily Life Situations

Tino Hutschenreuther, Marco Götze Wolfram Kattanek 13. SpectroNet Collaboration Forum, Konstanz, 17.04.2012

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1030. Residual stress measurements and mechanical properties of AlN thin films as ultra-sensitive materials for nanoelectromechanical systems

R. Grieseler, J. Klaus M. Stubenrauch K. Tonisch S.Michael J. Pezoldt P. Schaaf Philosophical Magazine, Special Issue: Nano-mechanical testing in materials research and development III, Volume 92, Issue 25-27, 2012, Pages 3392-3401, http://dx.doi.org/10.1080/14786435.2012.669074