Presentation of research results at the DATE2015 conference in Grenoble, France. Photograph: Felix Salfelder.
Presentation of research results at the DATE2015 conference in Grenoble, France. Photograph: Felix Salfelder.

Am IMMS finden bis auf weiteres keine Veranstaltungen statt. Wir informieren Sie rechtzeitig über Terminverschiebungen.

TuZ 2021

22.02.2021 – 23.02.2021

33. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz. Björn Bieske (IMMS), Ludwig Kircher (TU Ilmenau), Alexander Rolapp (IMMS)

Testsysteme auf PXI-Basis haben sich im Halbleitertest über die Jahre etabliert. Am IMMS wurde ein Konzept für ein Terminalsystem entwickelt, um die Verbindungen zwischen Testerinstrumenten und Testobjekt (DUT) flexibel konfigurieren und kombinieren zu können. Als zusätzliche Funktionen kommen Baugruppen für die Signalkonditionierung und Signalvorverarbeitung hinzu, um größere Leitungslängen zum DUT ohne Verfälschung der Mess- und Testsignale zu überbrücken. Damit können als Loadboard DUT-unabhängige Standardvarianten eingesetzt werden.

Mehr zur Entwicklung von Testequipment und zu Test-Dienstleistungen am IMMS