2146 Ergebnisse
Referenz
  751. Micromechanical Thin - Film Characterization  
M. Scherge, O. Mollenhauer F. Spiller J.A. Schaefer Proceedings of the Spring Meeting, Materials Research Society, San Francisco, April 1999  
Referenz
  752. Michael Muth, AeroLas  
„Wir schätzen die Zusammenarbeit mit dem IMMS bereits seit vielen Jahren. Die Ergebnisse des Projektes bilden für AeroLas die Basis für künftige kundenspezifische Produktdesigns. IMMS ist aufgrund seiner hervorragenden Expertise im Bereich der magnetischen Antriebstechnologie für uns ein wichtiger Partner für weitere Entwicklungen.“  
Veranstaltung
  753. MetroInd4.0&IoT 2021  
2021 IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON Metrology for Industry 4.0 and IoT  
Veranstaltung
  754. MetroAgriFor 2023  
Eine Mitarbeiterin des IMMS ist damit beschäftigt Bodenfeuchtesensoren im Boden einzubringen. Foto: IMMS GmbH. 2023 International IEEE Workshop on Metrology for Agriculture and Forestry  
Referenz
  755. Methodology for Experimental Investigation of Matching and Aging Effects  
B. Dimov, D. Nuernbergk A. Rolapp M. Meister E. Hennig Dresden: edaWorkshop 2011. 10.05. - 12.05.2011  
Referenz
  756. Methoden der digitalen Entwicklungsstadienerkennung im Wein- und Obstbau  
Silvia Krug, Martin Schieck Ergebniskonferenz der digitalen Experimentierfelder (Express), 4. September 2024, Berlin  
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  757. Messwertgestützte Energieeffizienzoptimierung  
F. Dinger, T. Hutschenreuther Erfurt: 4. Energieeffizienz-Workshop: 'Energieeffizienz durch Prozessoptimierung - Von der Analyse zu intelligenten Lösungen'. 07.07.2011  
Referenz
  758. Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien  
Björn Bieske, Dagmar Kirsten Andreas Ott Michael Frey 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee  
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  759. Messungen an elektrorheologischen Flüssigkeiten für die Dimensionierung von fluidischen Aktorarrays  
P. Kornetzky, IMMS, Ilmenau, F&E Report, März 1998  
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  760. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden  
M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
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