Aktuelle Publikation
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Björn Bieske1, Ingo Gryl1, Pierre Wenke2, Martin Jäger3, Jörg Steinecke2, Xiao Liu2
35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), , Erfurt, Germany
1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 2X-FAB Semiconductor Foundries GmbH, Haarbergstraße 67, 99097 Erfurt, Germany, 3X-FAB Global Services GmbH, Haarbergstraße 67, 99097 Erfurt, Germany