IMMS - Suche

Referenz

1821. StorAIge

Eine kleine Platine mit vergossenem Chip.

Wir erforschen eingebettete Datenspeicher mit extrem niedrigem Energieverbrauch in Frontend-ICs für drahtlose Sensoren zum Monitoring von Windkraftanlagen und von Pflanzen in Gewächshäusern.

Referenz

1822. Strategic research for microelectronics and microsystems

F. Rößler, Design Workshop, Luisenthal, Juni 2000

Referenz

1823. Strategie zur Laufzeitverlängerung von Routern in 6Lowpan-Sensornetzwerken unter Berücksichtigung von Quality-of-Service Parametern

Silvia Krug, 22. IWK Mittweida, 1. Mittweidaer Workshop 'Drahtlose Sensor-Aktor-Netzwerk', Mittweida, 24.10.2012-25.10.2012

Referenz

1824. Strategien für Initialdimensionierung und Analyse der Arbeitspunkte analoger Schaltungen

J. Nowak, Erfurt: Mikroelektronik-Seminar. 05.04.2011

Referenz

1825. Strategien zur Initialdimensionierung von analogen Schaltungen

V. Boos, Analog '08, 10. GMM/ITG-Fachtagung, 02.-04. April 2008, Siegen

Referenz

1826. Strategies for Initial Sizing and Operating Point Analysis of Analog Circuits

V. Boos, J. Nowak S. Henker S. Höppner Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011

Referenz

1827. Strategies for Initial Sizing and Operating Point Analysis of Analog Circuits

V. Boos, J. Nowak S. Henker S. Höppner M. Sylvester H. Grimm D. Krauße R. Sommer Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. ISBN: 978-1-61284-208-0

Referenz

1828. Strategische Weiterentwicklung des Instituts für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gGmbH

G. Scarbata, F & E Report, Ilmenau, April 2002

Referenz

1829. Stress Controlled Piezoeletric ALN-MEMS-Resonators with Molybdenum Electrodes for GHz Applications

H. Mehner, K. Brueckner D. Karolewski S. Michael M. A. Hein M. Hoffmann 23rd Micromechanics and Microsystems Europe Workshop (MME), 2012, in Proceedings, Session C.06, online: https://www.tu-ilmenau.de/fileadmin/media/mme2012/Proceedings/Session_C/C06_1642_MME2012_120622.pdf

Referenz

1830. Stress Identification of Thin Membrane Structures by Dynamic Measuarments. Aix-en-Provence

S. Michael, C. Schäffel S. Voigt R. Knechtel France: Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP). S. 106-109. ISBN: 978-2-35500-013-3