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2186 Ergebnisse
Referenz
  1821. Smartes Maschinenmonitoring – Anomalien mit Edge-KI detektieren  
Sebastian Uziel, 2025 in elektroniknet.de  
Referenz
  1822. SMARTIEHS  
Mit dem entwickelten Mess-System können MEMS-Strukturen im Wafer-Verbund gleichzeitig geprüft und der Testaufwand deutlich reduziert werden.  
Veranstaltung
  1825. SMEKUL-Werkstatt  
Workshop “Innovative Ideen und Lösungen für den Obst- und Weinbau“  
Referenz
  1826. sMobiliTy  
Das einfach installierbare drahtlose Sensorsystem des IMMS trägt dazu bei, die Elektromobilität voranzubringen.  
Referenz
  1828. SOI-Technologien der XFAB  
 
Pressemitteilungen
  1829. Sommeruniversität am IMMS  
MINT-Schülerinnen auf Perspektivensuche in den Laboren des Instituts  
Referenz
  1830. SONAPHONE  
Smartes digitales Ultraschallprüfgerät ermöglicht vorbeugende Instandhaltung und Prozessoptimierungen  
Suchergebnis 1821 bis 1830 von 2186