Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1193 Ergebnisse
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Optischer Sensor und Verstärker in BiCMOS
M. Heise1. H. Pleß.Design & Elektronik, September 19981IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Optische Kommunikation nach IEEE 1394b über POF
H. Töpfer1.09.03.2004, 18. Fachgruppentreffen ITG-FG 5.4.1. Optische Polymerfasern, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Optimizing the IoT Performance: A Case Study on Pruning a Distributed CNN
Eiraj Saqib1. Isaac Sánchez Leal1. Irida Shallari1. Axel Jantsch2. Silvia Krug3,1. Mattias O'Nils1.2023 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS), 18-20 July 2023, Ottawa, ON, Canada, July 18-20, 2023, pp. 1-6, DOI: doi.org/10.1109/SAS58821.2023.10254054.1Mid Sweden University, Sundsvall, Sweden. 2TU Wien, Vienna, Austria. 3IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
Optimized Measurement Methods Evaluating Crosstalk in different SOI Technologies
Björn Bieske1. Dagmar Kirsten2. Michael Frey3. Andreas Ott3.2025 IEEE 22nd International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Monastir, Tunisia, 2025, pp. 1315-1321, DOI: doi.org/10.1109/SSD64182.2025.109898851IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany. 2X-FAB Semiconductor Foundries GmbH, Erfurt, Germany. 3Melexis GmbH, Erfurt, Germany. -
Optimization of Analog Circuits with Automatic Device Type Selection
B. Dimov1. V. Boos1. T. Reich1. C. Lang1. E. Hennig1. R. Sommer1.Xth International Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design (SM²ACD'08), 7.-8. Oktober 2008, Erfurt, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Posterpräsentation -
Optimization of Analog Circuits with Automatic Device Type Selection
B. Dimov1. V. Boos1. T. Reich1. C. Lang1. E. Hennig1. R. Sommer1.Xth International Workshop on Symbolic and Numerical Methods, Modeling and Applications to Circuit Design (SM²ACD'08), pp 44-48, 07.-08. Oktober, Erfurt, 20081IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Optimierung industrieller Echtzeitanwendungen auf Basis von Open-Source-Technologien
S. Schramm1.4. Innovationsforum 'Software Saxony', 23.04.2010, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Optimierung der Bewässerung im Obstbau durch Sensorikeinsatz
Martin Penzel1. Silvia Krug2.Regionalkonferenz EXPRESS, 22. - 23. September 2021, Weingut Schloss Proschwitz, Meißen1Lehr- und Versuchszentrum Gartenbau Erfurt, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
Optical, mechanical and electro-optical design of an interferometric test station for massive parallel inspection of MEMS and MOEMS
Dr. Ch. Schäffel1. S. Michael1. B. Leistritz1. M. Katzschmann1. N. Zeike1. K. Gastinger2. M. Kujawinska3. M. Jozwik3. S. Beer4.10. International Conference of the Euspen Society for Precision Engineering & Nanotechnology, 31.05.2010-04.06.2010, Delft, Niederlanden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2SINTEF IKT Optical measurement systems and data analysis, Trondheim, Norway. 3Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, Warsaw, Poland. 4CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA, Zurich, Schwitzerland.Fachartikel -
Optical, mechanical and electro-optical design of an interferometric test station for massive parallel inspection of MEMS and MOEMS
K. Gastinger1. K. H. Haugholt1. M. Kujawinska2. M. Jozwik2. C. Schäffel3. S. Beer4.Paper 7389-56, SPIE Europe Optical Metrology, 14.- 18. Juni 2009, München1SINTEF, Norway. 2Warsaw Univ. of Technology, Poland. 3IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 4Ctr. Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA, Switzerland.Fachartikel SMARTIEHS