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Wissenschaftliche Publikationen

Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.

1163 Ergebnisse
  • Design Methodology for Application-Specific Electromagnetic Energy Harvesters

    Bianca Leistritz1. Wolfram Kattanek1.
    59th Ilmenau Scientific Colloquium, Session 4.2. – Processes and Methods, 11-15 September 2017, Ilmenau
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
  • Design Methodology for heterogeneous Machine Vision Systems

    F. Czerner. J. Zellmann1. J. Lioubov. U. Neuhäuser.
    GSPx/ISPC, 31.3.-3.4.2003, Dallas / USA
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Vortrag
  • Design of a Capacitive Humidity Sensor Frontend with an Adaptive Resolution for Energy Autonomous Applications

    Maximilian Wiener1. Benjamin Saft1.
    2019 15th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 15 - 18 July 2019, Lausanne, Switzerland, 2019, pp. 137-140, DOI: doi.org/10.1109/PRIME.2019.8787836
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
  • Design of a High-Speed Photodetector IC for Blu-ray Disc R/W Systems

    R. Sommer1,2. D. Krauße2. E. Schäfer1. E. Hennig1.
    Grenoble, France: DATE 2011, Design, Automation & Test in Europe. 14.-18.03.2011
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Technische Universität Dresden.
    Vortrag
  • Design of a Power Amplifier Module in a Novel Silicon-Ceramic Substrate for an LTE Transmitter

    V. Silva Cortes1. L. Liu1. U. Stehr2. M. Fischer2. A. Frank3. V. Chauhan1. M. Hein2. J. Müller2. R. Weigel1. G. Fischer1. A. Hagelauer1.
    Asia Pacific Microwave Conference 2017, 13-17 November 2017, Kuala Lumpur
    1Institute for Electronics Engineering, University of Erlangen-Nuremberg, Germany. 2Institute for Micro- and Nanotechnology, University of Ilmenau, Germany. 3IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.
  • Design of a superconductor-to-semiconductor interface circuit for high data rates

    Th. Ortlepp1. H. Töpfer2. S. Wünsch1. R. Schwemlein1. J. Flamm1. E. Crocoll2. M. Siegel1. F. H. Uhlmann1.
    Poster 336. WE-Heraeus-Seminar Processing of Quantum Information in RSFQ Circuits and Qubits, 29.11.-1.12. 2004, Bad Honnef
    1TU Ilmenau. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Posterpräsentation
  • Design of a superconductor-to-semiconductor interface circuit for high data rates

    Th. Ortlepp1. H. Töpfer2. S. Wünsch1. R. Schwemlein1. J. Flamm1. E. Crocoll2. M. Siegel1. F. H. Uhlmann1.
    ISEC 2005, 05.-09.09. 2005, Noordwijkerhout / Niederlande
    1TU Ilmenau. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
    Posterpräsentation
  • Design of a Test Station for Magnetoelectric Sensor Development

    Maximilian Krey1. Hannes Toepfer1. Roman Paris2. Thomas Froehlich3.
    2019 19th International Symposium on Electromagnetic Fields in Mechatronics, Electrical and Electronic Engineering (ISEF), 29 - 31 August 2019, Nancy, France, 2019, pp. 1-2, DOI: doi.org/10.1109/ISEF45929.2019.9097048
    1Technische Universität Ilmenau, Advanced Electromagnetics Group, Ilmenau, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 3Technische Universität Ilmenau Process Measurement Technology Group, Ilmenau, Germany.
  • Design of an interferometric test station for parallel inspection of MEMS

    C. Schäffel1. S. Michael1. R. Paris1. A. Frank1. N. Zeike1. K. Gastinger2. M. Kujawinska3. U. Zeitner4. S. Beer5.
    Ilmenau. In Proceedings. 56. Int. wissenschaftliches Kolloquium der TU Ilmenau. URN: urn:nbn:de:gbv:ilm1-2011iwk-098:5
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstr. 27, D-98693 Ilmenau, Germany. 2NTNU Trondheim, before SINTEF IKT Optical measurement systems and data analysis, N-7465 Trondheim, Norway. 3Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, 8 Sw. A. Boboli St.,Pl-02-525 Warsaw, Poland. 4Fraunhofer IOF, A.-Einstein-Str. 7, 07745 Jena, Germany. 5CSEM Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique SA, Technoparkstr. 1, CH-8005 Zurich, Switzerland.
    Fachartikel
  • Design of an interferometric test station for parallel inspection of MEMS

    C. Schäffel1. S. Michael1. R. Paris1. A. Frank1. N. Zeike1. K. Gastinger2. M. Kujawinska3. U. Zeitner4. S. Beer5.
    Ilmenau: 56. IWK der TU Ilmenau. 12.09. - 16.09.2011
    1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstr. 27, D-98693 Ilmenau, Germany. 2NTNU Trondheim, before SINTEF IKT Optical measurement systems and data analysis, N-7465 Trondheim, Norway. 3Institute of Micromechanics and Photonics, Warsaw University of Technology, 8 Sw. A. Boboli St.,Pl-02-525 Warsaw, Poland. 4Fraunhofer IOF, A.-Einstein-Str. 7, 07745 Jena, Germany. 5CSEM Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique SA, Technoparkstr. 1, CH-8005 Zurich, Switzerland.
    Vortrag
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