Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1163 Ergebnisse
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Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Posterpräsentation -
Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen
Bjoern Bieske1. Kurt Blau2.30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2TU Ilmenau, Germany. -
Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz
Björn Bieske1. Michael Meister1. Dagmar Kirsten2.Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, D-98693 Ilmenau, Germany. 2XFAB-AG, Germany. -
Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme
Björn Bieske1. Klaus Heinrich2.Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2X-FAB Semiconductor Foundries AG, Germany, Erfurt.Fachartikel -
Testerinstrumente auf FPGA-Basis
M. Sprogies1. G. Kropp1. I. Gryl1.Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Posterpräsentation -
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
M. Reinhard1. U. Liebold1. G. Methner1. M. Meister1. Dr. D. Nuernbergk1.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel TAB DVD Fotodiode -
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
M. Reinhard1. U. Liebold1. G. Methner1. M. Meister1. Dr. D. Nuernbergk1.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Posterpräsentation -
Testfeldentwurf zur Messung mit HF-Probes On-Wafer
U. Baumann1.internal Application Note, Dezember 19981IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization
Björn Bieske1. Gerrit Kropp1. Alexander Rolapp1.2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: doi.org/10.1109/SSD.2017.81669301IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. -
Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)
R. Grieseler1. K. Tonisch2. J. Klaus3. M. Stubenrauch2. S. Michael3. J. Pezoldt2. P. Schaaf2.Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.20121Ilmenau University of Technology, Institute of Micro- and Nanotechnologies MacroNano and Institute of Materials Engineering Department Materials for Electronics. 2Ilmenau University of Technology, Institute of Micro- and Nanotechnologies MacroNano Department of Nanotechnology.. 3IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag