Patent Dipl.-Ing. Michael Meister
Leiter Industrielle Elektronik und Messtechnik
Michael Meister ist Ihr Ansprechpartner für Testdienstleistungen, Testmethodikentwicklung und Langzeituntersuchungen. Er beantwortet Ihre Fragen zum Kernthema Modulare und mobile Testsysteme, die wir in unserem Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme entwickeln, sowie zu Test und Charakterisierung von Integrierten Sensorsystemen. Er ist verantwortlich für den Messgerätepool des IMMS und unterstützt Sie bei der Validierung von ASIC- und MEMS-Entwicklungen.
Patent-Nr.:Dipl.-Ing. Michael Meister
Erfinder:
Tag der Veröffentlichung:08.11.2014
Zugehörige Inhalte
Auszeichnung
Silicon Science Award für die Arbeit „Zeitkorrelierte Einzelphotonenzählung zur Zeitbereichscharakterisierung von Hochgeschwindigkeitslichtquellen mittels konfigurierbarer Logikbausteine“
Jakob Hampel
Projekt
MikroGraph
Für neue hochempfindliche Graphen-Sensortechnologien zur Vor-Ort-Detektion von Mikroschadstoffen im Abwasser entwickelt das IMMS die Auswerte-Elektronik
Projekt
Multi-Interact
Für die Gesundheitsforschung wird ein hochparallelisiertes Multiplex-System zur genauen kinetischen Bestimmung von Bindungsenergien zwischen Biomolekülen entwickelt.
Projekt
Quantum Hub Thüringen
Für Quantentechnologien aus Thüringen erforscht das IMMS CMOS-basierte Einzelphotonendetektoren.
Pressemitteilung,
Entwicklung einer Inline-Reinigung für Waschmedien in harzbasierter 3D-Druckproduktion
Projekt Inline3D zur Minimierung von Schadstoffen und Kosten im 3D-Druck gestartet
Pressemitteilung,
Startschuss für Forschungsprojekt „MikroGraph“
Thüringer Forschungsverbund entwickelt neuartige Sensorik zur Überwachung von Mikroschadstoffen im Abwasser
Pressemitteilung,
Silicon Science Award geht an Nachwuchsforscher von IMMS und TU Ilmenau
Arbeit zu zeitkorrelierter Einzelphotonenzählung für Messungen im Pikosekundenbereich ausgezeichnet
Pressemitteilung,
Thüringer Projekt entwickelt neuartige Technologieplattform zum Nachweis von SARS-CoV-2
Änderung der elektrischen Leitfähigkeit macht Virusmaterial sichtbar
Veranstaltung,
CiS-Workshop 2023
Workshop Simulation & Design 2023 am CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik
Veranstaltung,
MEDICA 2018
Das IMMS stellt auf dem Gemeinschaftsstand des DiagnostikNet-BB aus: Halle 3 / Stand G60.
Kontakt
Kontakt
Eric Schäfer, M. Sc.
Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt
eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35
Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.
Kontakt
Dr.-Ing. Ludwig Herzog
Leiter Mechatronik
ludwig.herzog(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 60
Dr. Ludwig Herzog gibt Ihnen Auskunft zu unserer Forschung an magnetischen 6D-Direktantrieben mit nm-Präzision für die nm-Vermessung und -Strukturierung von Objekten. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen für die Entwicklung mechatronischer Systeme, für Simulation, Design und Test von MEMS sowie für Finite-Elemente-Modellierung und Simulation.
Themenbereich Industrielle Elektronik und Messtechnik
Unser Team Industrielle Elektronik und Messtechnik besteht aus erfahrenen Spezialisten für:
- Elektrische Messtechnik
- Wafertest
- Optoelektronik (optische Sensorik)
- HF-Systeme
- Leistungselektronik
- Zuverlässigkeitsuntersuchungen
- Elektronik-Entwicklung
- Fehleranalyse
Unsere wissenschaftlichen Mitarbeiter haben einen akademischen Abschluss in Elektrotechnik, Ingenieurinformatik oder Informatik. Auf der Grundlage unserer modernen messtechnischen Ausstattung bearbeiten wir pro Jahr ca. 50 messtechnische Entwicklungen und Dienstleistungen sowie verschiedene Forschungsthemen.
Studienbegleitend bieten wir für ca. 4 Studentinnen und Studenten die Betreuung von Praktika und wissenschaftlichen Arbeiten an unseren beiden Standorten in Ilmenau und Erfurt an.
Wir unterstützen Sie mit Forschung und Entwicklung auf folgenden Gebieten
Forschungsfeld
Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme
Integrierte Sensor-ICs sind das Herz von Sensor- und Messsystemen wie Funksensoren, stationäre und Handheld-Diagnosegeräte. Wir forschen an Lösungen für immer leistungsfähigere Sensoren mit mehr Eigenintelligenz und Aufgabenverteilung im Sensornetz.
Kernthema
Modulare und mobile Testsysteme
Testmöglichkeiten sind fester Bestandteil aller Applikationsentwicklungen. Wir forschen an modularen Testsystemen, die durch optimierte funktionale Testeinheiten flexibel und schnell an neue Herausforderungen angepasst werden können.
Dienstleistung
Test und Charakterisierung
Wir testen, charakterisieren und qualifizieren Ihre Schaltkreise, Sensoren und Systeme. Auf Basis unseres exzellenten Messgerätepools entwickeln wir eine individuell angepasste Testumgebung für Messungen an Wafern und Einzelbauelementen.
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