iENA-Bronzemedaille für die Erfindung „Längeres Leben für Funksensoren – Selbstlernendes Sensorsystem für die industrielle Instandhaltung”
Erfindermesse iENA in Nürnberg, 1. – 3.11.2025; Thüringer Auszeichnungsveranstaltung zum iENA-Wettbewerb am PATON – Landespatentzentrum Thüringen, Technische Universität Ilmenau, 11.12.2025
Zugehörige Inhalte
Projekt
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Sebastian Uziel1KI Summer Connect: Souveräne KI – Daten, Modelle und Infrastruktur in eigener Hand, , Jena, Germany1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, GermanyCase Study on Compression of Vibration Data for Distributed Wireless Condition Monitoring Systems.
Rick Pandey1, Felix Grimm2,3, Dominik Nille2, Christoph Böckenhoff2, Jonathan Gamez1, Sebastian Uziel1, Albert Dorneich2, Tino Hutschenreuther1, Silvia Krug1,4Applied Sciences 2025, 15(22), 12346, DOI: doi.org/10.3390/app1522123461IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 2Balluff GmbH, Zabergäustraße 8, 73765 Neuhausen auf den Fildern, Germany, 3University of Stuttgart, Institute of Smart Sensors (IIS), Pfaffenwaldring 47, 70569 Stuttgart, Germany, 4Mid Sweden University, Department of Computer and Electrical Engineering, Holmgatan 10, 851 70 Sundsvall, SwedenSmartes Maschinenmonitoring – Anomalien mit Edge-KI detektieren
Sebastian Uziel1in Markt&Technik, Trend Guide Industrie 4.0/IIoT/KI, 2025, Seite 37-40, https://wfm-publish.blaetterkatalog.de1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, GermanySmartes Maschinenmonitoring – Anomalien mit Edge-KI detektieren
Sebastian Uziel1in elektroniknet.de, , https://www.elektroniknet.de/automation/industrie-40-iot/anomalien-mit-edge-ki-detektieren.228572.html1IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany
Patent
DE 10 2024 100 703
Verfahren und Sensoranordnung zum Überwachen einer Funktion eines Bauteiles einer Maschine
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