Best Paper Award für den Beitrag: Knowing Your AMS System’s Limits: System Acceptance Region Exploration by Using Automated Model Refinement and Accelerated Simulation
Forum on specification & Design Languages, FDL, Bremen, Germany
Zugehörige Inhalte
Projekt
ANCONA
Die erarbeiteten rechnergestützten Verifikationsmethoden beschleunigen die Entwicklung von Industrie-4.0-Anwendungen.
From Constraints to Tape-Out: Towards a Continuous AMS Design Flow
Andreas Krinke1. Tilman Horst1. Georg Gläser2. Martin Grabmann2. Tobias Markus3. Benjamin Prautsch4. Uwe Hatnik4. Jens Lienig1.A. Krinke et al., 2019 IEEE 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania, 24 - 26 April 2019, pp. 1-10.
1Technische Universität Dresden, Institute of Electromechanical and Electronic Design, Dresden, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 3Heidelberg University, ZITI, Computer Architecture Group, Heidelberg, Germany. 4Division Engineering of Adaptive Systems, Fraunhofer IIS/EAS, Institute for Integrated Circuits, Dresden, Germany.From Low-Power to No-Power: Adaptive Clocking for Event-Driven Systems
Georg Gläser1. Benjamin Saft1. Dominik Wrana2. Arthanasios Gatzastras2. Eckhard Hennig2.2018 Forum on Specification & Design Languages (FDL), Garching, 10-12 September 2018, pp. 5-16.
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2Reutlingen University Reutlingen, Germany.Impact Rating of Layout Parasitics in Mixed-Signal Circuits: Finding a Needle in a Haystack
Georg Gläser1. Martin Grabmann1. Dirk Nuernbergk2.2018 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), Prague, 2-5 July 2018, pp. 149-152.
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2Melexis GmbH, Erfurt, Germany.There is a limit to everything: Automated AMS Operating condition check Generation on System Level
Georg Gläser1. Martin Grabmann1. Gerrit Kropp1. Andreas Fürtig2.Integration, Volume 63, 2018, Pages 383-391, ISSN 0167-9260, DOI: doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.016
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2Institute for Computer Science, Goethe Universität Frankfurt a. M., Germany.
Veranstaltung,
DDECS 2019
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Veranstaltung,
edaBarCamp -- may the 4th be with you!
Originating from our PhD meetings in a german research project, we gained the idea of starting an open research meeting based on the barcamp-concept.
Veranstaltung,
SMACD 2018
Vortrag auf der 15th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
Pressemitteilung,
Zuverlässige und schnellere Chip-Designs durch invasive und parametrische Simulationsmethoden
Dissertation zu neuen Methoden für die Automatisierung beim Entwurf integrierter Schaltungen
Pressemitteilung,
EDA Achievement Award 2018 für Methoden des IMMS zum Entwurf integrierter Schaltungen
Neue Methoden ermöglichen schnelle und fehlerfreie Entwürfe komplexer Industrie-4.0-Lösungen
Pressemitteilung,
IMMS ”Competition Runner-up“ für Methodik zur Design-Automation
Verlässliche und automatisierte Verifikation von Chip-Designs beschleunigt Entwicklungszeiten
Pressemitteilung,
Best-Paper-Award für Beitrag zu rechnergestützter Verifikationsmethodik geht an IMMS
Neue Methoden sollen künftig die Entwicklung von Industrie-4.0-Anwendungen beschleunigen
Kontakt
Kontakt
Eric Schäfer, M. Sc.
Leiter Mikroelektronik und Institutsteil Erfurt
eric.schaefer(at)imms.de+49 (0) 361 663 25 35
Eric Schäfer und sein Team erforschen Integrierte Sensorsysteme und hier insbesondere CMOS-basierte Biosensoren, ULP-Sensorsysteme und KI-basierte Entwurfs- und Testautomatisierung. Die Ergebnisse fließen in die Forschung an den Leitthemen Sensorsysteme für die In-vitro-Diagnostik und RFID-Sensoren ein. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen rund um die Entwicklung integrierter Schaltungen und mit KI-basierten Methoden für komplexe IC-Entwürfe.