521. A Post-Layout Optimization Method With Automatic Device Type Selection for BiCMOS Analog Circuits   T. Reich, B. Dimov Ch. Lang V. Boos E. Hennig International Conference on Electronics Circuits and Systems, 13.-16. Dezember, 2009, Hammamet, Tunesien  

  522. GALILEO - Regionale Initiativen in Deutschland & Konvergenz zur Identifikation   Dr. W. Sinn, AMA-Wissenschaftsrat, 23.02.2010, Berlin  

  523. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  524. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme   B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  525. Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI-Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich   I. Gryl, G. Kropp R. Paris 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  526. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  527. Das Parallelisieren von Motor- und Regelungsentwurf reduziert Entwicklungszeit und -kosten   Dr. Ch. Schäffel, M. Katzschmann Erschienen in MSR-Magazin, Automatisierungstechnik für Fertigung und Prozess, 03/2010  

  528. Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairments   T. Elste, M. Sachs in Proceedings Embedded World 2010, 02.03.-04.03.2010, Nürnberg  

  529. Mobile Audio Dosimeter for the prevention of noise-induced hearing impairment   T. Elste, Embedded World Conference, 03.03.2010, Nürnberg  

  530. From SystemC to Real Hardware   K. Agla, Date 2010 - Design, Automation & Test in Europe, 08.03.-12.03.2010, Dresden