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Reference
  501. VE-ARiS – „Alberich“ – Machine-Learning-basierte Vorhersage der Kopierbarkeit von ASICs  
Florian Kögler, online 2022 Digitale Fachkonferenz „Vertrauenswürdige Elektronik 2022“  
Event
  502. Vertrauenswürdige Elektronik 2022  
Digital Conference of the Federal Ministry of Education and Research (BMBF) on trustworthy electronics  
Reference
  503. Echtzeitanalyse und Prognose des Wasserhaushalts im Weinbau  
Hannes Mollenhauer, Martin Schieck, Silvia Krug, Valentin Knitsch, 2022 IM+io, Fachmagazin, März 2022, Heft 01  
Reference
  504. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske, Ingo Gryl, Dagmar Kirsten, Bremerhaven, Germany 2022 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022)  
Event
  505. TuZ 2022  
34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (Workshop on test methods and reliability of circuits and systems)  
Reference
  506. Intelligente Layoutverarbeitung: KI für ASIC- und PCB-Layouts  
Georg Gläser, Julian Kuners, 2022 Elektronik, 03.2022  
Reference
  507. Machine-Learning-basierte Messdatenanalyse für ASICs. Testen auf der Überholspur  
Tom Reinhold, Georg Gläser, Elektronik, 01/02.2022  
Press release
  508. Rapid detection system for multi-resistances in tuberculosis infections  
Eight partners from research and industry launch BMBF FluoResYst project  
Press release
  509. From one of the world’s first USB hubs to AI  
Video auf YouTube ansehen. Video on 25 years of IMMS – transfers from basic research to industry  
Reference
  510. Evaluation of 2D-/3D-Feet-Detection Methods for Semi-Autonomous Powered Wheelchair Navigation  
Cristian Vilar Giménez, Silvia Krug, Faisal Z. Qureshi, Mattias O’Nils, 2021 Journal of Imaging  
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