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Event

461. CDNLive EMEA 2018

Lecture: System-Level Operating Condition Checks: Automated Augmentation of VerilogAMS Models Authors: Georg Gläser1, Martin Grabmann1, Gerrit Kropp1 and Andreas Fürtig2 1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany 2Institute for Computer Science, Goethe Universität Frankfurt a. M., Germany

Event

462. Central German Digital Day 2025

Central German Digital Day for Fruit Growing and Viticulture

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463. Challenges and Applications of Mobile Wireless ad-hoc Sensor Networks for Environmental Monitoring

J. Bumberger, H. Mollenhauer P. Remmler O. Mollenhauer T. Hutschenreuther H.Toepfer P. Dietrich Workshop am Helmholtz-Zentrum für Umweltforschung – UFZ, Kommissionssitzung der Kommission I, Bodenphysik und Bodenhydrologie, 11.09.2014-12.09.2014, Leipzig

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464. Challenges in Analog/Mixed-Signal EDA

R. Sommer, MunEDA User Group Meeting Europe 2007, 25.-26. September 2007, München

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465. CHANTS 2017

12th Workshop on Challenged Networks, Co-located with ACM MobiCom 2017

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466. Characterizing Dynamics of MEMS Devices on Wafer Level Using Optical Measurement Techniques

Sebastian Giessmann, Steffen Michael Eric Lawrence Dr. Heinrich Steger Commercial Micro Manufacturing International Magazine (CMM Magazine), 08-2023, VOL 16 NO. 3, pp. 30-39

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467. Charakterisierung und Test von elektrostatischen Energieharvestern – Eine neue Schaltungstopologie für exaktere Messungen

Björn Bieske, Gerrit Kropp 29. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017), 5.- 7. März 2017, Lübeck

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468. Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme

B. Bieske, K. Gille 22nd ITG/GI/GMM Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn

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469. Charakterisierung, Optimierung und PEEC-Modellierung für einen Signalübertragungsabschnitt in Multi-Chip-Modulen

H. Töpfer, Workshop Entwurf von integrierten Analog-/Mixed-Signal-/HF-Schaltungen, 10.05.2007, Dresden

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470. Chipdesign Germany

With Ilmenau TU, we have developed an AI-based anomaly detection method to automatically detect non-proven and potentially faulty locations in layouts. Our relatetd plugin for the free design tool KiCad is available on GitHub. Source: IMMS.

Eine Veranstaltung der Designinitiative Mikroelektronik