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Reference
  1911. Nachrüstbares Monitoring – Defekte Straßenlampen clever ausfindig machen  
Sören Schneider, Marco Götze, Silvia Krug, Kathrin Veigel, 2024 in elektroniknet.de  
Reference
  1912. Miniaturisierter CMOS-ISFET-Sensor für die Analytik und Diagnostik  
Alexander Hofmann, Juli 2024 DeviceMed, Das Community-Magazin, Jahrgang 20, Ausgabe 3  
Media library
  1913. Jahresbericht 2023  
Jahresbericht 2023 JAHRESBERICHT 2023 Inhalt 2 >>Integrierte Sensorsysteme 3 Vorwort >>Intelligente ver- 5 Kooperation mit der TU Ilmenau netzte Mess- u. 7 Stimmen aus Industrie und Forschung Testsysteme 11 Nachwuchsförderung am IMMS >>Mag6D-nm- 17 Stimmen aus dem IMMS Direktantriebe > Inhalt 21 Forschungsfeld Integrierte Sensorsysteme 90 Forschungsfeld Magnetische 6D-Direkt­- 23 Highlights 2023 antriebe mit Nanometer-Präzision 32 Fachartikel: SPAD-basierter CMOS-Zeilen- 92 Fachartikel: Unkonventionelle, laterale senor-IC für den Nachweis von Chemi­- …  
Press release
  1914. Annual report 2023 online  
www.imms.de/annualreports  
Reference
  1915. Wie wird mein Unternehmen KI-ready? Bedarfsgerechte Analyse- und Unterstützungspotenziale für KMU durch eine institutionsübergreifende Zusammenarbeit  
Sebastian Gerth, Martin Folz, Wolfram Kattanek, 2024 Mittelstand-Digital Magazin „Wissenschaft trifft Praxis“, Ausgabe 22, „KI-Readiness“  
Event
  1916. FPGA Ignite Summer School  
Diagram illustrating the method. Networking, exciting lectures and a hackathon on designing a custom RISC-V SoC  
Event
  1917. 5 Jahre EXPRESS  
Bud dendrometer (metal clip with cables) in a fruit tree. Mitteldeutsches Netzwerktreffen des Experimentierfelds EXPRESS  
Media library
  1918. 2023 Annual Report | Article EdgeCam (en/de)  
Intelligente, vernetzte Kamerasysteme für mehr Sicherheit im mobilen Einsatz von Ladekränen  
Media library
  1919. 2023 Annual Report | Article NanoFab (en/de)  
Unkonventionelle, laterale Messungen mit Laser-Fokus-Sensoren für Nanopositioniersysteme  
Media library
  1920. 2023 Annual Report | Article PTK 4.0 (en/de)  
Kompaktes Mixed-Signal-Testsystem zur Charakterisierung von Halbleiterspeichern  
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