1831. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1832. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden   M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1833. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  

  1834. High reliability EEPROM design for high-temperature applications   D. Kirsten, S. Richter D. Nuernbergk St. Richter Second Workshop of the Thematic Network on Silicon on Insulator technology, devices and circuits (EUROSOI), Grenoble, Frankreich, 8.-10. März, 2006  

  1835. Neue Designmethoden für den analogen und digitalen Schaltungsentwurf   F. Rößler, Silicon Saxony Tag 2006, März 2006  

  1836. Investigations on Wafer-Level Testing for Accelerometers by Harmonic Response Measurements   St. Michael, S. Hering M. Katzschmann MEMUNITY-Workshop 'Testing MEMS at Wafer-Level', 01.03.2006, Halle  

  1837. Considerations on RSFQ development in the context of actual trends and demands of microelectronics   H. Töpfer, 03.-04.02.2006, SCENET Workshop, Faro, Portugal  

  1838. Systemintegration mobiler Datenerfassungsmodule für industrielle Anwendungen   W. Sinn, 2. RFID Workshop Silicon Saxony, 01.02.2006, Dresden  

  1839. SCENET roadmap for superconductor digital electronics   H.J.M. ter Brake, F.-I. Buchholz, G. Burnell, T. Claeson, D. Crete, P. Febvre, G. Gerritsma, H. Hilgenkamp, R. Humphreys, Z. Ivanov, W. Jutzi, M. Khabipov, J. Mannhart, H.-G. Meyer, J. Niemeyer, A. Ravex, H. Rogalla M. Russo, J. Satchell, M. Siegel, F.H. Uhlmann, J.-C. Villegier, E. Wikborg, D. Winkler, A.B. Zorin H. Töpfer Physica C, 439 (2006) 1, S. 1-41  

  1840. Embedded EEPROM design in PD-SOI for application in an extended temperature range (-40°C up to 200°C)   D. Kirsten, D. Nuernbergk S. Richter St. Richter Fachzeitschrift 'Solid-State Electronics' Nr. 49 (2005) page 1484-1487, Veröffentlichung, November 2005