1785 results
Press release
  161. The 2016 Annual Report is available  
Here you can find the contents in brief and the entire report which is linked to further information, related articles and videos.  
Reference
  162. Text messages  
Text messages on 25 years of IMMS: Here you will find texts sent to us by our partners for our 25th anniversary. There are also many references to concrete projects and joint product developments. Many thanks!  
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  163. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich  
Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  
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  164. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion  
B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
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  165. Testschaltung für MEMS-Inertialsensoren-Auswerte-ASIC  
Roman Paris, Peter Kornetzky Jenny Klaus 28. GMM/GI/ITG Workshop – Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen, TuZ 2016, 06.03.2016 - 08.03.2016, Siegen, Germany  
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  166. Testmöglichkeiten auf Waferebene am IMMS  
M. Meister, 49. Mikroelektronik-Seminar, 05.05.2010, Erfurt  
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  167. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  168. Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen  
D. Kirsten, A. Rolapp Dr. D. Nuernbergk 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung - ZuE (Zuverlässigkeit und Entwurf) 2010, 13.09.-15.09.2010, Wildbad Kreuth  
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  169. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen  
K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau  
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  170. Testing symmetrical 2.4 GHz ZigBee Transceivers using unsymmetrical RF Measurement Equipment  
B. Bieske, A. Rolapp 9th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices (SSD), 2012, Digital Object Identifier: 10.1109/SSD.2012.6197944, http://ieeexplore.ieee.org, IEEE Xplore Digital Library, E-ISBN 978-1-4673-1589-0  
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