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  1611. 2022 Annual Report | Article Trib.US (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel Trib.US (en/de): Mobiles Multisensorik-Prüfgerät zur Instandhaltung von Wälzlagern  
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  1612. 2022 Annual Report | Article KI-EDA WTF Hardware Fuzzer (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel KI-EDA WTF Hardware Fuzzer (en/de): Automatisiertes Testen mikroelektronischer Schaltungen auf Fehler – Methode aus der Softwareentwicklung findet Bugs in Hardware  
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  1613. 2022 Annual Report | Article QuantumHub Thüringen (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel QuantumHub Thüringen (en/de): Einzelphotonenzählung und pikosekundenschnelle Messungen für die Forschung an Quantentechnologien  
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  1614. 2022 Annual Report | Article Vibrometry for MEMS (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel Vibrometrie für MEMS (en/de): Applikationsmöglichkeiten  
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  1615. 2022 Annual Report | Article K4PNP+Z (en/de)  
2022 Jahresbericht | Fachartikel K4PNP+Z (en/de): Neue Generation von Hubmodulen zur vertikalen Nanopositionierung mit bis zu 25 mm Verfahrweg  
Reference
  1616. Unconventional, lateral measurements with laser focus sensors for nanopositioning stages  
Davi Anders Brasil, Michael Katzschmann Steffen Hesse Ludwig Herzog T. Fröhlich T. Kissinger euspen Special Interest Group Meeting, "Micro/Nano Manufacturing", 28. - 29. November 2023, Ilmenau, Germany  
Reference
  1617. Validierung KI-basierter Simulationsmethoden im Chip-Entwurf, Testbench in Hardware  
Tom Reinhold, Elektronik, 25.2023, 29. November 2023, Seite 60 - 64, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2325D  
Press release
  1618. Energieeffizienz für serielle Inter-Chip-Kommunikation mit kommerziellen drahtlosen Sensoren  
iENA-Silbermedaille für Latch-basierten aktiven Ultra-Low-Power-Pull-Up-Emulator  
About us
  1619. Corruption prevention  
Corruption prevention: Here we inform you about the implementation of corruption prevention at IMMS and the contact options for questions, issues and information on corruption prevention.  
Reference
  1620. Pikosekundenschnelle Lichtmessungen für die Quantenforschung – Einzelphotonen präzise messen  
Jakob Hampel, Elektronik, 04.2024, 20. Februar 2024, Seite 60 - 63, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2404D  
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