1561. Technologische Aspekte der messtechnisch gestützten Beratung   T. Hutschenreuther, H. Töpfer Gera: Fachinformationsveranstaltung des TMWAT - Energieeffizienz durch Prozessoptimierung. 09.03.2011  

  1562. Technology and Design of RSFQ Circuits for Operation at High Temperatures   D. Cassel, Th. Ortlepp B. Kuhlmann R. Dittmann H. Töpfer Siegel F.H. Uhlmann 336. WE-Heraeus-Seminar Processing of Quantum Information in RSFQ Circuits and Qubits, 29.11.-1.12. 2004, Bad Honnef  

  1563. Technology Setup for WiCkeD in X-FAB CMOS and BiCMOS Process for Automotive and Sensor Applications   V. Boos, MunEDA User Group Meeting Europe 2007, 25.-26. September 2007, München  

  1564. TEEMSC – Trainable Energy Efficient Machine Diagnosis using Singular Values and Canonical Crosscorrelation   Rick Pandey, Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Silvia Krug IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 and IoT, Florence, Italy, May 29-31, 2024, DOI: https://doi.org/10.1109/MetroInd4.0IoT61288.2024.10584173  

  1565. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche   Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  

  1566. Teilprojekt A5 - Nanopositioniersysteme großer Bewegungsbereiche   Steffen Hesse, Forschungsergebnisse 2002-2013, Abschlusspräsentation SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen, Ilmenau, 29.05.2013  

  1567. Temperaturfeldberechnungen in der Mikromechanik   K. Rettig, 16. CAD-FEM User Meeting, Bad Neuenahr-Ahrweiler, Oktober 1998  

  1568. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Languages, Design Methods and Tools for Electronic System Design, Selected Contributions from FDL 2015, ISBN 978-3-319-31722-9, pages 125-150  

  1569. Temporal Decoupling with Error-Bounded Predictive Quantum Control   Georg Gläser, Gregor Nitsche Eckhard Hennig Specification and Design Languages (FDL), 2015 Forum on, 14-16 Sept. 2015, Barcelona, Spain, (Best-Paper-Award), DOI: http://dx.doi.org/10.1109/FDL.2015.7306358, Print ISBN - IEEE Xplore 978-1-4673-7735-5  

  1570. Terminalsystem 2.0: Neue, flexible Möglichkeiten der Kombination von PXI-Testerressourcen bis 1 GHz   Björn Bieske, Ludwig Kircher Alexander Rolapp 33. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2021), 22. Februar 2021, online