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1401. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)

Björn Bieske, Ingo Gryl, Pierre Wenke, Martin Jäger, Jörg Steinecke, Xiao Liu, Erfurt, Germany 2023 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023)

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1402. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen

Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister, Prien am Chiemsee 2019 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)

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1403. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests

Michael Meister, Björn Bieske, Ingo Gryl, Dagmar Kirsten, Bremerhaven, Germany 2022 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022)

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1404. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden

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1405. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden

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1406. Messungen an elektrorheologischen Flüssigkeiten für die Dimensionierung von fluidischen Aktorarrays

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1407. Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien

Björn Bieske, Dagmar Kirsten, Andreas Ott, Michael Frey, Prien am Chiemsee 2019 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)

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1408. Messwertgestützte Energieeffizienzoptimierung

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1409. Methoden der digitalen Entwicklungsstadienerkennung im Wein- und Obstbau

Silvia Krug, Martin Schieck, Berlin, Germany 2024 Ergebniskonferenz der digitalen Experimentierfelder (Express)

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1410. Methodology for Experimental Investigation of Matching and Aging Effects