1769 results
Reference
  1121. MEMS-T-Lab  
In the MEMS-T-Lab, IMMS takes highly complex semi-automated measurements for complete MEMS wafers  
Reference
  1122. MEMS-Vibro3D  
Research infrastructure for the next MEMS generation: 3D vibrometer system and new broadband amplifier  
Reference
  1123. MEMS2015  
The IMMS tool automatically generates mechanical designs. MEMS can be simulated and verified as an entire system.  
Reference
  1124. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik  
Volker Boos, Ralf Popp Mirco Meiners D. Meisel A. Müller in Newsletter edacentrum, 01/2013  
Reference
  1125. Messtechnisch gestützte Beratung und Analyse des Kosteneinsparpotenzials  
H. Töpfer, Gera: Enterprise Europe Network Thüringen- Unternehmerworkshop. 13.04.2011  
Reference
  1126. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)  
Björn Bieske, Ingo Gryl Pierre Wenke Martin Jäger Jörg Steinecke Xiao Liu 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023), 26. - 28. Februar 2023, Erfurt, Germany  
Reference
  1127. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen  
Marco Reinhard, Alexander Rolapp Benjamin Saft Michael Meister 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019), 24.-26. Februar 2019, Prien am Chiemsee  
Reference
  1128. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske Ingo Gryl Dagmar Kirsten 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022), 27. Februar - 1. März 2022, Bremerhaven, Germany  
Reference
  1129. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden  
M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
Reference
  1130. Messung von Empfindlichkeitsprofilen an Fotodioden  
M. Meister, 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006  
Search results 1121 until 1130 of 1769