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Vergleich der Scan-Perfomance bei Nanopositioniersystemen mit großem Bewegungsbereich
Jaqueline Stauffenberg1, Ingo Ortlepp1, Ulrike Blumröder1, Denis Dontsov2, Christoph Schäffel3, Mathias Holz4, Ivo W. Rangelow5, Eberhard Manske1
in tm – Technisches Messen, vol. 81, no. 6, pp. 335–342, 2014, DOI: dx.doi.org/10.1515/teme-2014-0358
1Technische Universität Ilmenau, Fakultät Maschinenbau, Institut für Prozessmess- und Sensortechnik, Ehrenbergstraße 29, 98693 Ilmenau, Germany, 2SIOS Meßtechnik GmbH, Am Vogelherd 46, 98693 Ilmenau, Germany, 3IMMS Institut für Mikroelekronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH (IMMS GmbH), Ehrenbergstraße 27, 98693 Ilmenau, Germany, 4nano analytik GmbH, Ehrenbergstraße 3, 98693 Ilmenau, Thuringia, Germany, 5Technische Universität Ilmenau, Department of Mechanical Engineering, Institute of Process Measurement and Sensor Technology, Nanoscale Systems Group, 98684 Ilmenau, P.O. Box 10 05 65, Germany
