Current Publication
Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils
M. Reinhard1.
M. Meister1.
U. Liebold1.
T. Cohrs1.
Dr. D. Nuernbergk1.
22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
Talk
Related content
Project
TAB DVD photo diode
For industrial applications photodiodes have been efficiently integrated into existing low-cost CMOS and BiCMOS processes of ASIC production.