Aktuelle Publikation
Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils
M. Reinhard1.
M. Meister1.
U. Liebold1.
T. Cohrs1.
Dr. D. Nuernbergk1.
22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn
1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.
Vortrag
Zugehörige Inhalte
Projekt
TAB DVD Fotodiode
Für Industrieapplikationen wurden Fotodioden effizient in kostengünstige CMOS/BiCMOS-Prozesse für die ASIC-Fertigung integriert.