1164 results
-
Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Poster presentation -
Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel Germany GmbH, Heilbronn.Poster presentation -
Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen
Bjoern Bieske1. Kurt Blau2.30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2TU Ilmenau, Germany. -
Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz
Björn Bieske1. Michael Meister1. Dagmar Kirsten2.Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, D-98693 Ilmenau, Germany. 2XFAB-AG, Germany. -
Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme
Björn Bieske1. Klaus Heinrich2.Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2X-FAB Semiconductor Foundries AG, Germany, Erfurt.Article -
Testerinstrumente auf FPGA-Basis
M. Sprogies1. G. Kropp1. I. Gryl1.Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Poster presentation -
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
M. Reinhard1. U. Liebold1. G. Methner1. M. Meister1. Dr. D. Nuernbergk1.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Poster presentation -
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
M. Reinhard1. U. Liebold1. G. Methner1. M. Meister1. Dr. D. Nuernbergk1.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article TAB DVD photo diode -
Testfeldentwurf zur Messung mit HF-Probes On-Wafer
U. Baumann1.internal Application Note, Dezember 19981IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Article -
Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization
Björn Bieske1. Gerrit Kropp1. Alexander Rolapp1.2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: doi.org/10.1109/SSD.2017.81669301IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.