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Referenz
  771. Messverfahren zur HF-Charakterisierung des Crosstalks verschiedener Halbleitertechnologien  
Björn Bieske, Dagmar Kirsten, Andreas Ott, Michael Frey, Prien am Chiemsee 2019 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)  
Referenz
  775. Messumgebung zur mixed-signal Echtzeit-Parametererfassung bei Lebensdauertests  
Michael Meister, Björn Bieske, Ingo Gryl, Dagmar Kirsten, Bremerhaven, Germany 2022 34. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022)  
Referenz
  776. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen  
Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister, Prien am Chiemsee 2019 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)  
Referenz
  777. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)  
Björn Bieske, Ingo Gryl, Pierre Wenke, Martin Jäger, Jörg Steinecke, Xiao Liu, Erfurt, Germany 2023 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023)  
Veranstaltung
  779. Messtechnik-Messe SENSOR+TEST 2012  
Vom Sensor bis zur Auswertung: Die gesamte messtechnische Systemkompetenz für die Mess-, Prüf- und Überwachungsaufgaben aller Branchen.  
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