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1712 Ergebnisse
Referenz
763.
Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)
Referenz
764.
Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)
Referenz
765.
A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference
Referenz
766.
A Digitally Trimmable Wide Temperature Range 0.35-µm CMOS On-Chip Precision Voltage Reference
Referenz
767.
Degradation der HF-Parameter im GHz-Bereich durch Vergussmassen und Substratmaterialen