1719 Ergebnisse
Forschungsfeld
  571. Modulare und mobile Testsysteme  
Kernthema Modulare und mobile Testsysteme im Forschungsfeld Intelligente vernetzte Mess- und Testsysteme: Testmöglichkeiten sind fester Bestandteil aller Applikationsentwicklungen. Wir forschen an modularen Testsystemen, die durch optimierte funktionale Testeinheiten flexibel und schnell an neue Herausforderungen angepasst werden können.  
Referenz
  572. Modulare Systemplattform für drahtlose Sensornetzwerke  
S. Engelhardt, E. Chervakova W. Kattanek T. Rossbach 4. Innovationsforum 'Software Saxony', 23.04.2010, Dresden  
Referenz
  573. Modulare Sensor-Testplattform für Hochtemperaturanwendungen bis 300 °C  
Björn Bieske, Tom Reinhold Marco Reinhard 20. GMA/ITG Fachtagung Sensoren und Messsysteme 2019, 25. - 26. Juni 2019, Nürnberg  
Referenz
  574. Modulare Präzisionsantriebe für MEMS und Laserfertigung  
O. Mollenhauer, F. Spiller S. Pause D. Rode Statusseminars zum Verbundprojekt 'MODAN', VDE / VDI - Tagung 'Elektrisch - mechanische Antriebssysteme', Fulda, 6./7.10.2004  
Referenz
  575. Modulare Plattformen für die Entwicklung eingebetteter Systeme  
S. Engelhardt, 11. Microcontroller-Applikation/eingebettete Systeme-Workshop. Wissenschaftliche Zeitschrift der Hochschule Mittweida Nr. 2/2011. S. 43-45.  
Referenz
  576. Modulare Hochtemperatur-Testplattform bis 300 °C  
Bjoern Bieske, Tom Reinhold Marco Reinhard 30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany  
Referenz
  577. Modular hardware and software platform for the rapid implementation of asic-based bioanalytical test systems  
Alexander Hofmann, Peggy Reich Marco Götze Alexander Rolapp Sebastian Uziel Thomas Elste Bianca Leistritz Wolfram Kattanek Björn Bieske 2021 Design, Automation & Test in Europe (DATE), 01 - 05 February 2021, University Booth, https://past.date-conference.com/proceedings-archive/2021/html/date2021-uni-booth-pro.pdf, Virtual Conference  
Referenz
  578. Modular Desktop Platform for High-Temperature Characterization and Test up to 300°C  
Tom Reinold, Björn Bieske Georg Gläser Michael Meister International Conference and Exhibition on High Temperature Electronics Network (HiTEN 2019), 8 -10 July 2019, St. Anne’s College in the University of Oxford, Oxford, United Kingdom, DOI: https://doi.org/10.4071/2380-4491.2019.HiTen.000117  
Referenz
  579. Modelling Cycle-Accurate Hardware with Matlab/Simulink using SystemC  
F. Czerner, J. Zellmann 6. European SystemC Users Group Meeting, 22.10.2002, Stresa  
Referenz
  580. Modelling Cycle-Accurate Hardware with Matlab/Simuling using SystemC  
F. Czerner, J. Zellmann International DSP Conference, 6-7. Mai 2003, Stuttgart  
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