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Referenz
181.
Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)
Referenz
184.
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
Referenz
185.
Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden
Referenz
188.
Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz