161. Thermal Channel Noise of quarter and sub-quarter micron NMOS FET's   G. Knoblinger, P. Klein U. Baumann ICMTS 2000, USA, CA, Monterey, März 2000  

  162. There is a limit to everything: Automated AMS Operating condition check Generation on System Level   Georg Gläser, Martin Grabmann Gerrit Kropp Andreas Fürtig Integration, Volume 63, 2018, Pages 383-391, ISSN 0167-9260, DOI: https://doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.016  

  163. Themenkreis Virtual Test und automatische Testplangenerierung aus ATML   D. Glaser, P. Lu K. Helmreich I. Gryl M. Meister A. Lechner M. Jegler Z. Kiss Virtuelle Instrumente in der Praxis VIP 2010, 27.10.-28.10.2010, München, Proceedings  

  164. The sound of ultrasound   Nicki Bader, Peter Holstein Hans-Joachim Münch Sebastian Uziel Tino Hutschenreuther Steffen Seitz 26th International Congress on Sound and Vibration (ICSV26), 7 - 11 July 2019, Montréal, Canada, ISBN: 9781510892699  

  165. The Rapid Single-Flux Quantum Technology - a Promising Alternative for the Development of High-Performance Digital Electronics   B. Dimov, T. Ortlepp H. F. Uhlmann Kleinheubacher Tagung 2007, 24.-27. September 2007, Miltenberg  

  166. The asynchronous rapid single-flux quantum electronics - a promising alternative for the development of high-performance digital circuits   B. Dimov, Th. Ortlepp V. Mladenov S. Terzieva F. H.Uhlmann Advances in Radio Science, Kleinheubacher Berichte, 6, 1-9, 2008  

  167. The angle dependent ΔE effect in TiN/AlN/Ni micro cantilevers   Bernd Hähnlein, Maria Kellner Maximilian Krey Alireza Nikpourian Jörg Pezoldt Steffen Michael Hannes Töpfer Stefan Krischok Katja Tonisch Sensors and Actuators A: Physical, Volume 345, 2022, 113784, ISSN 0924-4247, DOI: https://doi.org/10.1016/j.sna.2022.113784  

  169. Testsystem für die Charakerisierung analoger und digitaler Strukturen – Mixed-Signal-Analyse wird mobiltauglich   Tom Reinhold, Elektronik, 24.2024, 26. November 2024, Seite 70 - 73, ePaper: https://wfm-publish.blaetterkatalog.de/frontend/mvc/catalog/by-name/ELE?catalogName=ELE2424D  

  170. Teststrategien für HF-ICs vom Labor zur Produktion   B. Bieske, P. Witzenhausen 18. ITG Testworkshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen', Titisee, 12.-14.03.2006