TuZ 2015: 27. GI/GMM/ITG Workshop

Es wird eine Testmethodik zur Charakterisierung von Halbleiterschaltern und –multiplexern vorgestellt. Die zu schaltenden Signale sollen dabei Amplituden bis zu 100 V aufweisen und im Frequenzbereich bis 100 MHz liegen. Der Schwerpunkt liegt auf der Erzeugung der Signale zur Ansteuerung der Testobjekte. Die Analyse der Ausgangssignale erfolgt im Zeitbereich mit einem Oszilloskop.

Der Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“ ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal und HF-Schaltungen zu diskutieren.

Vortrag am 2.3.2015, 15:45 - 16:30, Stift Urach: Björn Bieske (IMMS), Michael Meister (IMMS), Dagmar Kirsten (X-FAB AG): "Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen. Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz."