Suche
2180 Ergebnisse
Referenz
1401.
MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik
Referenz
1404.
Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)
Referenz
1405.
Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen