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Dienstleistung

1401. MEMS – Simulation, Design und Test

FE-Simulation einer MEMS-Struktur als Basis für Optimierungen im Entwurf. Foto: IMMS.

Dienstleistung MEMS – Simulation, Design und Test: Wir entwickeln als Designhouse für die offene Technologieplattform XMB-10 von X-FAB Beschleunigungssensoren entsprechend Ihrer Spezifikation. Beim Test von MEMS fokussieren wir uns auf die vibrometrische Untersuchung von Sensoren.

Pressemitteilungen

1402. MEMS-Entwurfsmethodik mit EDA Achievement Award 2015 geehrt

Der EDA Achievement Award 2015 ging an IMMS und TU Ilmenau für Arbeiten an einer durchgängigen MEMS-Design-Methodik. Foto: IMMS.

Methodik von IMMS und TU Ilmenau erschließt kostengünstige MEMS-Entwicklungen und neue Applikationen.

Referenz

1403. MEMS-T-Lab

Im MEMS-Testlabor nimmt das IMMS hochkomplexe Messungen für komplette Wafer in einem neuen Automatisierungsgrad vor. Foto: IMMS.

Im MEMS-T-Lab nimmt das IMMS hochkomplexe teilautomatisierte Messungen für komplette MEMS-Wafer vor

Referenz

1404. MEMS-Vibro3D

Messplatz zur Erfassung von 3D-Schwingungen an MEMS. Foto: IMMS.

Forschungsinfrastruktur für neue MEMS-Generation: 3D-Vibrometersystem und Breitband-Verstärkersystem.

Referenz

1405. MEMS2015

Mit dem am IMMS entwickelten Design-Tool entworfenes MEMS-Design für einen Beschleunigungssensor. Foto: IMMS.

Ein am IMMS entwickeltes Entwurfswerkzeug generiert Mechanik-Designs automatisch und ermöglicht MEMS-Gesamtsystemsimulationen.

Referenz

1406. MEMS2015 - Schaltplan-basierter Entwurf von MEMS für Anwendungen in Optik und Robotik

Veranstaltung

1407. Messtechnik-Messe SENSOR+TEST 2012

Vom Sensor bis zur Auswertung: Die gesamte messtechnische Systemkompetenz für die Mess-, Prüf- und Überwachungsaufgaben aller Branchen.

Referenz

1408. Messtechnisch gestützte Beratung und Analyse des Kosteneinsparpotenzials

Referenz

1409. Messumgebung für Lebensdauertests basierend auf dem Konzept der universellen Test-Chips (UTC)

Björn Bieske, Ingo Gryl, Pierre Wenke, Martin Jäger, Jörg Steinecke, Xiao Liu, Erfurt, Germany 2023 35. ITG/GI/GMM-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2023)

Referenz

1410. Messumgebung zur dynamischen Charakterisierung des Leistungsverbrauchs von Ultra-Low-Power Schaltungen

Marco Reinhard, Alexander Rolapp, Benjamin Saft, Michael Meister, Prien am Chiemsee 2019 31. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)