1351. Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen   S. Michael, R. Paris S. Hering 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1352. Neue Programmiersprachen für Test und Verifikation in Mixed-Design   E. Ulicna, 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1353. Symbolische Analyse und Reduktion Multi-Physikalischer Systeme   J. Broz, Th. Halfmann R. Sommer 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1354. Symbolische Approximationsverfahren zur automatischen Modellgenerierung linearer und nichtlinearer Systeme   R. Sommer, 6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt  

  1356. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006  

  1357. High Precision Positioning and Measurement Systems for Microtribotesting   O. Mollenhauer, S.I.-U. Ahmed F. Spiller H. Haefke Tribotest, Vol. 12 / 2006, p. 189 - 199  

  1358. Schneller starten - Bootvorgang bei Embedded Linux   R. Peukert, Fachzeitschrift 'Design&Elektronik', Ausgabe 11/2006, S.62-63  

  1359. Development of a bandwidth measurement for photo diodes   M. Meister, X-FAB Workshop 'Process Development & Characterisation Workshop on Innovation', 15.-16.11.2006, Luisenthal  

  1360. Testmethodik für integrierte optoelektronische Schaltungen   K. Förster, Clustermeeting OptoNet e.V., 2.11.2006, Ilmenau