1031. Experiences with the UML in the design of automotive ECUs   M. Götze, W. Kattanek In: Design, Automation and Test in Europe (DATE) Conference 2001, Band Designers' Forum, S. 49-53. IEEE Computer Society, Los Alamitos, 2001  

  1032. Experiences porting the Linux Kernel to an ARM platform   R. Peukert, Th. Elste Linux OS Workshop, 22.03.06, Konstanz  

  1033. Every Clock Counts - 41 GHz Wide-Range Integer-N Clock Divider   Christoph Wagner, Georg Gläser Gerald Kell Giovanni Del Galdo 2021 16th Conference on PhD Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), Proceedings in: 423 Seiten, 140 x 124 mm, Slimlinebox, CD-Rom, ISBN 978-3-8007-5588-2, E-Book: ISBN 978-3-8007-5589-9, https://ieeexplore.ieee.org/document/9547998, 19 - 22 July 2021, Erfurt, Germany, online  

  1034. Evaluierung, Charakterisierung und Test von HF-ASICs   B. Bieske, K. Förster ITG/GI/GM, Dresden, 29.02.-02.03.2004  

  1035. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)   Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 04.03.2013-06.03.2013  

  1036. Evaluierung von HF-CMOS-Modulen für Kommunikationssysteme mit flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)   Björn Bieske, Klaus Heinrich 13. ITG/GMM-Fachtagung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden (Analog), Aachen, 2013, CD-ROM, ITG-FB 239, ISBN 978-3-8007-3467-2  

  1037. Evaluierung und Test von HF-CMOS-Modulen, Einsatz von flexibel konfigurierbaren Testsystemen (PXI)   Björn Bieske, Klaus Heinrich Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach  

  1038. Evaluierung und Test von GNSS-Empfängern mit realen und synthetischen Satellitensignalen   Björn Bieske, Uwe Stehr Matthias Hein Syed N. Hasnain 36. ITG / GMM / GI -Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2024), 25. - 27. Februar 2024, Darmstadt, Germany  

  1039. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating-Gate Transistor   D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk Ultimate Integration on Silicon, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom  

  1040. Evaluation of Low Leakage Currents using a Floating Gate Transistor   D. Kirsten, Dr. D. Nuernbergk International Conference on Ultimate Limits on Silicon 2010, 17.03.-19.03.2010, Glasgow, United Kingdom: in Proccedings of the 11th ULIS