1031. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn  

  1032. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie   U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  

  1033. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik   G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997  

  1034. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006  

  1035. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht   Dr. W. Sinn, TU Ilmenau (Ringvorlesung), 08.06.2010, Ilmenau  

  1036. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek 4. GI/ITG/GMM-Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 19.-21. Februar 2001, Meissen  

  1037. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek In: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, Band 2, S. 87-98. Verlag MoPress, Pohrsdorf, 2001  

  1038. Erfahrungen beim Halbleitertest und zukünftige Herausforderungen für PXI-Testsysteme   Klaus Förster, ATE-Technologietag, Radolfzell, 07.05.2013  

  1039. Erfahrungen bei der Verifikation eines Kontrollergesteuerten LIN-Knoten   M. Hahn, Fach- und Kooperationsworkshop Verifikation, 16. Oktober 2007, Hannover  

  1040. Erfahrungen bei der Nutzung einer analogen Hardware-Beschreibungsspache (AHDL) im Designflow unter CADENCE für einen zyklischen AD-Wandler   R. Izak, R. Kindt J. Strömer ITG-Fachdisskusion 'Messtechnische Charakterisierung der A/D- und D/A-Wandler', Günzburg, September 2000