Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1163 Ergebnisse
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Optischer Sensor und Verstärker in BiCMOS
M. Heise1. H. Pleß.Design & Elektronik, September 19981IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
OPTOELECTRONICS BiCMOS OEIC for optical storage systems
M. Heise1. K. Kieschnick. H. Pleß. H. Zimmermann.Electronics Letters, September 19981IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
OPV und TIA-Optimierung mit WiCkeD
V. Boos1. St. Lange1.Workshop: 'Effizienzsteigerung und Ausbeuteverbesserung im analogen Schaltungsentwurf mit WiCkeD, 20.01.2004, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Parameter Identification of Membrane Structures - Chances and Limitations
S. Michael1.SSI 2010 - MEMUNITY Workshop, 24.03.2010, Grenoble, France1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Parameter Identification of MEMS Membrane and Beam Structures by Modal Analysis and Dynamic Measurements
St. Michael1.ANSYS Conference & 27. CADFEM Users' Meeting, 18. - 20. November 2009, Leipzig1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Parameter Identification of Piezoelectric AlGaN/GaN Beam Resonators by Dynamic Measurements
St. Michael1. K. Brueckner2. F. Niebelschuetz2. K. Tonisch2. C. Schäffel1.10th EuroSimE 2009, 26.-28. April, Delft, Netherlands1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2TU Ilmenau, Institute of Micro- and Nanotechnologies.Fachartikel -
Parameteridentifikation von MEMS auf Wafer-Level mittels dynamischer Messungen
S. Michael1. R. Paris2. S. Hering3.6. ITG/GI/GMM-Workshop Multi-Nature Systems: Entwicklung von Systemen mit elektronischen und nichtelektronischen Komponenten, Februar 2007, Erfurt1Melexis Erfurt GmbH. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 3X-FAB AG.Vortrag -
Parametric Measurement Unit and Pin Electronics for modular Mixed Signal Test Systems
A. Rolapp1. R. Paris1.Chip, Packaging, Design, Simulation and Test - International Conference, Workshop and Table-top Exhibition 'Semiconductor Conference Dresden 2009' (SCD 2009), 29. - 30. April 2009, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Parametric Measurement Unit und Pinelektronik für ein modulares Mixed Signal Testsystem
A. Rolapp1. R. Paris1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 86, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Parasitic Symmetry at a Glance: Uncovering Mixed-Signal Layout Constraints
Georg Gläser1. Benjamin Saft1. Ralf Sommer1.FAC 2017, Frontiers in Analog CAD, Frankfurt on the Main, Germany, 21-22 July 2017, pp. 1-6. URL: ieeexplore.ieee.org/document/8011279/1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany.