Wissenschaftliche Publikationen
Hier finden Sie alle Veröffentlichungen des IMMS seit 1997: begutachtete Konferenz-Paper / Journal-Beiträge, Fachartikel in Zeitschriften, Vorträge und Posterpräsentationen.
1163 Ergebnisse
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Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz
Björn Bieske1. Michael Meister1. Dagmar Kirsten2.Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, D-98693 Ilmenau, Germany. 2XFAB-AG, Germany. -
Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen
Bjoern Bieske1. Kurt Blau2.30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 2TU Ilmenau, Germany. -
Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel Germany GmbH, Heilbronn.Posterpräsentation -
Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Posterpräsentation -
Test und Charakterisierung von MEMS mittels dynamischer Messung am Beispiel von Membranstrukturen und Resonatoren
St. Michael1.4. Silicon Saxony Day, 12.-13. Mai 2009, Dresden1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Test opto-elektronischer Schaltungen unter Verwendung von PXI-Testsystemen
M. Meister1. A. Rolapp1. I. Gryl1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 81, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel -
Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Fachartikel -
Test of differential 2.4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee ICs: Limits and Challenges
B. Bieske1. M. Lange2. S. Beyer2.Semiconductor Conference Dresden 2008, 23.-24. April 2008, Dresden, Germany1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau. 2Atmel GmbH, Heilbronn, Germany.Vortrag -
Test mit Zukunft - Smart PXI
M. Konrad1. K. Förster2.Ilmenau: wiss. Kolloquium zum 15-jährigen Bestehen des IMMS. 05.05.20111Konrad GmbH, Radolfzell, Germany. 2IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Vortrag -
Test differentieller Parameter von HF-Komponenten im GHz-Bereich
B. Bieske1.21. Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2009), Tagungsband S. 35, 15. - 17. Februar 2009, Bremen1IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, Ilmenau.Fachartikel