Projekt NFM-100
Für die Grundlagenforschung zur Nanomesstechnik und Nanofabrikation der TU Ilmenau wurde mit der Nanofabrikationsmaschine NFM-100 ein System realisiert, welches zum einen die Abtastung von Oberflächen (AFM) und zum anderen die Bearbeitung mittels Feldemissions-Rastersondenlithographie erstmalig in einem xy-Verfahrbereich von Ø100 mm möglich macht.
Die Inspektion von optischen Präzisionsbauteilen, Wafern und Masken, Oberflächenscans auf atomarem Level mit Atomkraftmikroskopie (AFM), spitzenbasierte Nanofabrikation mit aktiven Mikrocantilevern – diese und viele weitere Technologien der High-Tech-Industrie auch über die Halbleitertechnik hinaus sind auf hochpräzise Positioniersysteme angewiesen, um eine nanometergenaue Vermessung, aber auch um Nanofabrikation, d.h. eine Manipulation in dieser Größenordnung, zu ermöglichen. Dabei wird es zunehmend notwendig, diese Technologien nicht nur im Bereich einiger Mikrometer, sondern auch für große Messobjekte oder auf Waferebene, im Bereich von hundert Millimetern oder mehr, einsetzen zu können.
Für die Grundlagenforschung zur Nanomesstechnik und Nanofabrikation der TU Ilmenau wurde mit der Nanofabrikationsmaschine NFM-100 ein System realisiert, welches zum einen die Abtastung von Oberflächen (AFM) und zum anderen die Bearbeitung mittels Feldemissions-Rastersondenlithographie erstmalig in einem xy-Verfahrbereich von Ø100 mm möglich macht.
IMMS Know-How zur Präzisionspositionierung
Bei der Entwicklung und Realisierung der NFM-100 unter Federführung der SIOS GmbH konnte das IMMS sein Know-how auf dem Gebiet der luftgeführten Präzisionsantriebe, insbesondere der Realisierung von Nanopositioniersystemen für große Verfahrbereiche, einbringen, das nicht zuletzt aus der langjährigen gemeinsamen Forschung mit der TU Ilmenau zu Nanopositionier- und Nanomessmaschinen resultiert. Das Positioniersystem der NFM-100 besteht aus einem vom IMMS entwickelten integrierten 3D-Direktantrieb, bei dem die Antriebskräfte berührungsfrei auf einen aerostatisch planar geführten Quarzglasläufer wirken. Die Verschiebung und Verdrehung des Läufers wird mittels ultrastabiler Differenz-Interferometer der SIOS GmbH ebenfalls berührungsfrei und mit Pikometer-Auflösung gemessen. Mit diesem rauscharmen und hochgenauen Feedback wird über die Echtzeitsteuerung eine Closed-Loop-Regelung für x, y und φz realisiert. Neben der Entwicklung und Realisierung des integrierten Direktantriebs und dessen Einbindung in das Gesamtsystem der Maschine steuerte das IMMS auch die Programmierung der Echtzeitsteuerung und insbesondere die Entwicklung, Implementierung und das Feintuning der Regelungsalgorithmen bei. Als Antastsystem kommt ein AFM-Messkopf der nano analytik GmbH zum Einsatz.
Long Range AFM Scans und 100-Pikometer-Schritte möglich
Im Ergebnis entstand mit der NFM-100 ein völlig neuartiges Gerät, welches durch den großen Arbeitsbereich neue Anwendungsfelder für die AFM-Technologie erschließt. Das Positioniersystem erreicht Subnanometer-Positionsstabilität und ermöglicht Positionierschritte von beispielsweise 100 Pikometern, siehe Abbildung 2.
Mit diesen herausragenden Eigenschaften wird die NFM-100 sehr erfolgreich für die wissenschaftliche Arbeit an der TU Ilmenau auf dem Gebiet der Nanofabrikation eingesetzt. So gelang hier in 2021 die Realisierung durchgängiger AFM-Scans über 50 mm ohne das sonst übliche Stitching, d.h. ohne die Aneinanderreihung von Teilaufnahmen, siehe Abbildung 3.
Perspektivisch auch mit Vertikalverstellung
Das der NFM-100 zugrundeliegende Positioniersystem kann auch mit anderen Sensoren als Antast- bzw. Manipulationssystem ausgestattet werden, was die Adressierung weiterer Mess- oder Bearbeitungstechnologien auf Nanometer-Level ermöglicht. In obiger Konfiguration ist das Positioniersystem als modulare Plattform jetzt schon über die SIOS GmbH verfügbar.
Der zugrundeliegende skalierbare Maschinenansatz ermöglicht aber neben größeren xy-Verfahrbereichen auch die Implementierung einer z-Verstellung von bis zu 10 mm. Hierzu wurden am IMMS passende Hubmodule als vertikale Nanopositionierer mit integrierter Gewichtsentlastung entwickelt [4], [5].
Akronym / Name:
NFM-100 / Planares Nanopositioniersystem ermöglicht Atomkraftmikroskopie in neuer QualitätLaufzeit:2018 – 2019
Anwendung:
|Inspektion von optischen Präzisionsbauteilen| Inspektion von Wafern und Masken| Oberflächenscans auf atomarem Level mit Atomkraftmikroskopie (AFM)| spitzenbasierte Nanofabrikation mit aktiven MikrocantilevernForschungsfeld:Magnetische 6D-Direktantriebe mit nm-Präzision
Partner
Zugehörige Inhalte
Tip-based nanofabrication below 40 nm combined with a nanopositioning machine with a movement range of Ø100 mm
Jaqueline Stauffenberg1. Michael Reibe1. Anja Krötschl2. Christoph Reuter2. Ingo Ortlepp1,2. Denis Dontsov3. Steffen Hesse4. Ivo W. Rangelow1,5. Steffen Strehle2. Eberhard Manske1.Micro and Nano Engineering, Volume 19, 2023, 100201, ISSN 2590-0072, DOI: doi.org/10.1016/j.mne.2023.100201
1Institute of Process Measurement and Sensor Technology, Production and Precision Measurement Technology Group, Technische Universität Ilmenau, Gustav-Kirchhoff-Straße 1, Ilmenau 98693, Thuringia, Germany. 2Institute of Micro- and Nanotechnologies, Microsystems Technology Group, Technische Universität Ilmenau, Max-Planck-Ring 12, Ilmenau 98693, Thuringia, Germany. 3SIOS Meßtechnik GmbH, Am Vogelherd 46, Ilmenau 98693, Thuringia, Germany. 4IMMS Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, 98693 Ilmenau, Germany. 5nano analytik GmbH, Ehrenbergstraße 3, Ilmenau 98693, Thuringia, Germany.
Kontakt
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Dr.-Ing. Ludwig Herzog
Leiter Mechatronik
ludwig.herzog(at)imms.de+49 (0) 3677 874 93 60
Dr. Ludwig Herzog gibt Ihnen Auskunft zu unserer Forschung an magnetischen 6D-Direktantrieben mit nm-Präzision für die nm-Vermessung und -Strukturierung von Objekten. Er unterstützt Sie mit Dienstleistungen für die Entwicklung mechatronischer Systeme, für Simulation, Design und Test von MEMS sowie für Finite-Elemente-Modellierung und Simulation.