701. Erfahrungen bei der Nutzung einer analogen Hardware-Beschreibungsspache (AHDL) im Designflow unter CADENCE für einen zyklischen AD-Wandler   R. Izak, R. Kindt J. Strömer ITG-Fachdisskusion 'Messtechnische Charakterisierung der A/D- und D/A-Wandler', Günzburg, September 2000  

  702. Erfahrungen bei der Verifikation eines Kontrollergesteuerten LIN-Knoten   M. Hahn, Fach- und Kooperationsworkshop Verifikation, 16. Oktober 2007, Hannover  

  703. Erfahrungen beim Halbleitertest und zukünftige Herausforderungen für PXI-Testsysteme   Klaus Förster, ATE-Technologietag, Radolfzell, 07.05.2013  

  704. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek In: Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, Band 2, S. 87-98. Verlag MoPress, Pohrsdorf, 2001  

  705. Erfahrungen mit der UML beim Entwurf von Kfz-Steuerungen   M. Götze, W. Kattanek 4. GI/ITG/GMM-Workshop Methoden und Beschreibungssprachen zur Modellierung und Verifikation von Schaltungen und Systemen, 19.-21. Februar 2001, Meissen  

  706. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht   Dr. W. Sinn, TU Ilmenau (Ringvorlesung), 08.06.2010, Ilmenau  

  707. Erfolgskritisches Wissen bewerten und entwickeln - Praxisbericht aus dem Forschungsalltag   W. Sinn, 8.InfoPool. Aller Anfang ist leichter als man denkt - Wissensmanagement einführen, Veranstaltung Fraunhofer Gesellschaft, Berlin, 05.12.2006  

  708. Ergebnisse von Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zum Entwurf analog-digitaler Mikroelektronik   G. Scarbata, VDI/VDE Veranstaltung des Thüringer Bezirksvereins e.V., F. Schiller Uni Jena, Januar 1997  

  709. Ergebnisse von optoelektronischen Teststrukturen in CMOS- und BiCMOS Technologie   U. Kuniß, D. Nuernbergk H. Pleß K.-O. Hofacker F. Rößler Statusseminar CADWOK, Paderborn, Januar 1999  

  710. Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils   M. Reinhard, M. Meister U. Liebold T. Cohrs Dr. D. Nuernbergk 22nd ITG/GI/GMM Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2010), 28.02.-02.03.2010, Paderborn