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Reference
  702. Testing of mechanical properties of AlGaN thin films by Eigenmode detection on Microeletromechanical Systems (MEMS)  
R. Grieseler, K. Tonisch J. Klaus M. Stubenrauch S. Michael J. Pezoldt P. Schaaf Int. Conference on Metallurgical Coating and Thin Films, ICMCTF, San Diego, USA, 23.04.2012-27.04.2012  
Event
  703. Workshop Embedded Linux  
 
Reference
  705. Realisierbarkeit eines tragbaren Erfassungssystems fur leitungsgebundene Störströme in Industrieanlagen  
Peter Kornetzky, Martin Sachs Stefan Schramm Deutsche Gesellschaft für die Anwendung der Mikroelektronik e.V. (DFAM), Studie Nr. 8/2012, ISBN 978-3-8163-0622-1  
Reference
  706. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme  
Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de  
Reference
  707. Analyse des rauschinduzierten Timing-Jitters in Low-Power Mixed-Signal-Schaltungen mittels einer High-Level Beschreibung  
K. Agla, O. Wetzstein Th. Ortlepp H. Töpfer Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS), 2012, Tagungsband, S. 104 - 109, ISBN: 978-3-8396-0404-5, CD-ROM  
Reference
  708. Analyse des rauschinduzierten Timing-Jitters in Low-Power Mixed-Signal-Schaltungen mittels einer High-Level Beschreibung  
K. Agla, O. Wetzstein Th. Ortlepp H. Töpfer Dresdner Arbeitstagung Schaltungs- und Systementwurf (DASS), 2012, Dresden, 03.05.2012-04.05.2012  
Reference
  709. Early Power Estimation in a Mixed-Signal Environment using UVM and RTL Compiler  
Muralikrishna Sathyamurthy, Eckhard Hennig Felix Neumann Lukasz Kotynia CDNLive!, Cadence User Conference, EMEA 2012, München, 14.5.2012-16.05.2012  
Reference
  710. A UVM-based Verification Methodology for RFID-enabled Smart Sensor Systems  
Muralikrishna Sathyamurthy, Eckhard Hennig Felix Neumann CDNLive!, Cadence User Conference, EMEA 2012, München, 14.5.2012-16.05.2012  
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