221. Testing Electrostatic Energy Harvesters: A New Topology for Accurate Characterization   Björn Bieske, Gerrit Kropp Alexander Rolapp 2017 14th International Multi-Conference on Systems, Signals & Devices (SSD), Marrakech, Morocco, 28-31 March 2017, pp. 331-336. DOI: http://doi.org/10.1109/SSD.2017.8166930  

  222. Testfeldentwurf zur Messung mit HF-Probes On-Wafer   U. Baumann, internal Application Note, Dezember 1998  

  223. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt  

  224. Testfeld zur Charakterisierung von Laserspot-Größen zur Untersuchung und Modellierung des HF-Verhaltens von pin-Fotodioden   M. Reinhard, U. Liebold G. Methner M. Meister Dr. D. Nuernbergk 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt, in Proceedings  

  225. Testerinstrumente auf FPGA-Basis   M. Sprogies, G. Kropp I. Gryl Passau: 23. GI/GMM/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen' (TuZ 2011)  

  226. Test von HF-Zellen - Auf Basis modularer PXI-Testsysteme   Björn Bieske, Klaus Heinrich Elektronik Industrie. S.62-64. 5.2012. www.elektronik-industrie.de  

  227. Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen, Entwicklung einer Testmethodik für Schalter bis 100 V und 100 MHz   Björn Bieske, Michael Meister Dagmar Kirsten Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2015), 01.03.2015 - 03.03.2015, Bad Urach  

  228. Test von HF-Frontends für Navigationsanwendungen – Evaluierung von mehrkanaligen GNSS-Empfängern mit realen Satellitensignalen   Bjoern Bieske, Kurt Blau 30. GI/GMM/ITG-Workshop, Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 4.-6. März 2018, Freiburg im Breisgau, Germany  

  229. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBee™ ICs: Grenzen und Möglichkeiten   B. Bieske, M. Lange S. Beyer TuZ 2008, 20. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 24.-26. Februar 2008, Wien  

  230. Test von differentiellen 2,4 GHz IEEE 802.15.4 / ZigBeeTM ICs: Grenzen und Möglichkeiten   B. Bieske, M. Lange S. Beyer 11. ITG/GMM-Fachtagung ANALOG 2010, 22.03.-24.03.2010, Erfurt